[发明专利]表面结合磁颗粒的检测有效
| 申请号： | 201280053251.5 | 申请日： | 2012-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN103907012B | 公开（公告）日： | 2018-02-16 |
| 发明（设计）人： | J·B·A·D·范佐恩;R·M·L·范利斯豪特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/552 | 分类号： | G01N21/552 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 刘瑜,王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 表面 结合 颗粒 检测 | ||
1.一种用于在磁颗粒(1、1')已经结合到结合表面(111)之后检测样本室(112)中的磁颗粒(1、1')的方法，所述方法包括：
a)生成排斥磁场和吸引磁场(B)的序列，其中，
a1)所述吸引磁场(B)将磁颗粒(1、1')吸引至所述结合表面(111)；
a2)在生成所述吸引磁场(B)之前生成所述排斥磁场，所述排斥磁场将磁颗粒(1、1')从所述结合表面(111)拉离；
a3)所述排斥磁场的持续时间和/或强度和/或梯度大于所述吸引磁场(B)的持续时间和/或强度和/或梯度；
b)在所述吸引磁场(B)开始之后0.01s和1s之间的时间处检测所述结合表面(111)处的磁颗粒(1、1')。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述排斥磁场和所述吸引磁场(B)的序列被至少重复两次。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，借助衰逝波(Le)检测所述结合表面(111)处的所述磁颗粒(1、1')。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述衰逝波(Le)是由光束(L1)在所述结合表面(111)处的全内反射生成的。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，图像传感器(130)被提供用于检测来自所述结合表面(111)的输出光束(L2)。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，使所述图像传感器(130)的快门时间和/或帧速率与所生成的磁场(B)同步。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述吸引磁场(B)具有平行于所述结合表面(111)的分量。
8.一种用于检测结合至样本室(112)的结合表面(111)的磁颗粒(1、1')的传感器设备(100)，包括：
a)磁场生成器(150)，其用于在磁颗粒(1、1')已经结合到所述结合表面(111)之后生成排斥磁场和吸引磁场(B)的序列，其中，
a1)所述吸引磁场(B)将磁颗粒(1、1')吸引至所述结合表面(111)；
a2)在生成所述吸引磁场(B)之前生成所述排斥磁场，所述排斥磁场将磁颗粒(1、1')从所述结合表面(111)拉离；
a3)所述排斥磁场的持续时间和/或强度和/或梯度大于所述吸引磁场(B)的持续时间和/或强度和/或梯度；
b)检测单元(120、130)，其用于在所述吸引磁场(B)开始之后的0.01s和1s之间的时间处检测在所述结合表面(111)处的磁颗粒(1、1')；
c)控制单元(140)，其用于控制所述检测单元和所述磁场生成器，使得在所述吸引磁场(B)开始之后的0.01s和1s之间的时间处做出检测。
9.根据权利要求8所述的传感器设备(100)，还包括评估单元(140)，所述评估单元被提供用于对来自所述检测单元的检测结果进行评估，其中，所述评估是关于结合至所述结合表面(111)的磁颗粒(1、1')的量做出的，并且其中，所述吸引磁场(B)具有平行于所述结合表面(111)的分量。
10.根据权利要求8所述的传感器设备用于分子诊断、生物样本分析、化学样本分析、食品分析和/或法医分析的用途。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦有限公司，未经皇家飞利浦有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201280053251.5/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于圆锥滚子轴承自动上料认面机的翻面装置
- 下一篇：带自锁功能的下压机构
