[发明专利]结晶及层叠体有效
申请号: | 201280049324.3 | 申请日: | 2012-10-03 |
公开(公告)号: | CN103843083A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 塚崎敦 | 申请(专利权)人: | 独立行政法人科学技术振兴机构 |
主分类号: | H01F10/10 | 分类号: | H01F10/10;H01F10/32;H01L29/82 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 蒋亭 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结晶 层叠 | ||
技术领域
本发明涉及结晶及层叠体,例如涉及将M设为3d过渡金属元素时为MgMO的结晶、以及含有该结晶作为膜的层叠体。
背景技术
近年来,一直在积极地推进应用了带有电荷的自旋的信息处理、以及用于独立控制自旋与电荷的技术开发。例如,提出了像MRAM(Magnetic Random Access Memory)和自旋晶体管这样的、使用发生了自旋极化的传导电子的器件等。
非专利文献1中预测:作为MgO(氧化镁)的晶体结构,除了纤锌矿结构与岩盐结构之外,MgO的晶体结构可以是h-MgO(以下也称为六方结构)。非专利文献2和3中记载了强磁性体的异常霍尔效应。
现有技术文献
非专利文献
非专利文献1:Physical Review B Vol.63,104103(2001)
非专利文献2:Physical Review Letters Vol.97,126602(2006)
非专利文献3:JJAP Express Letter Vol.46,L642-L644(2007)
发明内容
发明所要解决的课题
对于使用自旋极化传导电子的器件来说,需要高效生成自旋极化传导电子。霍尔迁移率大的试样一般具有高传导率。在这种情况下,高传导率起因于高电子浓度,大部分情况下迁移率低。作为电子浓度高的试样,有例如Fe、Co等强磁性金属。对于强磁性金属而言,传导电子的自旋极化率为60%以下。传导电子的自旋极化率依存于与定域自旋的相互作用而发生变化。例如,若传导电子能够在低电子浓度下具有高电子迁移率,则自旋极化率由偏斜散射(skew scattering)来确定。因此,有可能能够实现高自旋极化率。
本发明鉴于上述课题而完成,其目的在于提供,高效生成自旋极化传导电子的层叠体、以及能够制作该层叠体的结晶。
用于解决课题的手段
本发明为一种层叠体,其特征在于,
具备:
作为具有纤锌矿结构的结晶的底膜,和
将M设为3d过渡金属元素、且将X的范围设为0<X<1时,形成于上述底膜上的具有六方结构的MgXM1-XO膜;
其中,
将Mg或M示为20、将O示为22时,所述六方结构为图8的晶体结构。
根据本发明,可以高效生成自旋极化传导电子。
就上述构成而言,可以形成上述底膜的晶格常数a和b分别大于在上述MgXM1-XO膜为纤锌矿结构的情况下的晶格常数a和b的构成。
就上述构成而言,可以形成上述底膜为具有纤锌矿结构的氧化锌的构成。根据该构成,可以形成六方结构的MgXM1-XO膜。
就上述构成而言,可以形成上述M为Co、上述MgXM1-XO膜的膜厚为60nm以下的构成。
就上述构成而言,可以形成上述M为Co、上述MgXM1-XO膜的X的范围为0.1以上且0.5以下的构成。
就上述构成而言,可以形成上述MgXM1-XO膜为在该膜上具有覆盖膜的MgXM1-XO膜,且形成上述覆盖膜的结晶的晶格常数a和b分别大于在上述MgXM1-XO膜为纤锌矿结构的情况下的晶格常数a和b的构成。
就上述构成而言,可以形成上述MgXM1-XO膜为MgXCo1-XO膜的构成。另外,就上述构成而言,当M为Co和Zn、且将Y的范围设为0<Y<1时,可以形成上述MgXM1-XO膜为MgXCoYZn1-X-YO膜的构成。
本发明为一种结晶,其特征在于,
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