[发明专利]热射线遮蔽材料有效
申请号: | 201280047724.0 | 申请日: | 2012-09-28 |
公开(公告)号: | CN103827704A | 公开(公告)日: | 2014-05-28 |
发明(设计)人: | 松野亮;大关胜久 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G02B5/26 | 分类号: | G02B5/26 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 庞东成;龚泽亮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 遮蔽 材料 | ||
1.一种具有金属颗粒含有层的热射线遮蔽材料,所述金属颗粒含有层包含至少一种金属颗粒和粘合剂,其中所述金属颗粒含有层的厚度为10nm~80nm,所述金属颗粒包含相对于所述金属颗粒的总数量为至少60个数%的六角形至圆形的平板状金属颗粒,所述平板状金属颗粒含有层中的粘合剂具有源自交联剂的交联结构,并且交联基密度比为0.3~30,所述交联基密度比在所述粘合剂具有包含两种交联基的一对交联体系时根据下式(1)计算,在所述粘合剂具有包含三种以上交联基的两对以上交联体系时根据下式(2)计算:
粘合剂交联基密度比=([B])/[A] 式(1)
其中,[A]和[B]各自分别表示所述粘合剂中以mol/g计的交联体系A和B的交联基密度;并且当所述交联基包含在两种以上的高分子量物质或低分子量物质中时,[A]是具有最高固形物浓度的高分子量物质中的交联基密度,并且[B]是具有第二高固形物浓度的高分子量物质或低分子量物质中的交联基密度;
粘合剂交联基密度比=([B]+[C])/[A] 式(2)
其中,[A]、[B]和[C]各自分别表示所述粘合剂中以mol/g计的交联体系A、B和C的交联基密度;并且当所述交联基包含在三种以上的高分子量物质或低分子量物质中时,[A]是具有最高固形物浓度的高分子量物质中的交联基密度,[B]是具有第二高固形物浓度的高分子量物质中的交联基密度,[C]是具有第三高固形物浓度的高分子量物质或低分子量物质中的交联基密度。
2.如权利要求1所述的热射线遮蔽材料,其中,源自所述交联剂的成分以相对于所述粘合剂为0.1质量%~100质量%的量包含在所述平板状金属颗粒含有层中。
3.如权利要求1或2所述的热射线遮蔽材料,其中,所述粘合剂具有水溶性或水分散性。
4.如权利要求1~3中任一项所述的热射线遮蔽材料,其中,所述粘合剂的主要聚合物是聚酯树脂。
5.如权利要求1~4中任一项所述的热射线遮蔽材料,其中,所述交联剂残留在所述平板状金属颗粒含有层中。
6.如权利要求1~5中任一项所述的热射线遮蔽材料,其中,所述交联剂是碳二亚胺型交联剂和噁唑啉型交联剂中的至少一种。
7.如权利要求1~6中任一项所述的热射线遮蔽材料,其中,所述交联基包含碳二亚胺基和噁唑啉基中的至少一种和羧基。
8.如权利要求1~7中任一项所述的热射线遮蔽材料,其中,所述六角形至圆形的平板状金属颗粒的平均圆等效直径的变动系数为至多30%。
9.如权利要求1~8中任一项所述的热射线遮蔽材料,其中,所述六角形至圆形的平板状金属颗粒的平均圆等效直径为70nm~500nm,并且其纵横比,即平均粒径/平均颗粒厚度,为6~40。
10.如权利要求1~9中任一项所述的热射线遮蔽材料,其中,所述六角形至圆形的平板状金属颗粒的平均厚度为至多14nm。
11.如权利要求1~10中任一项所述的热射线遮蔽材料,其中,所述六角形至圆形的平板状金属颗粒至少含有银。
12.如权利要求1~11中任一项所述的热射线遮蔽材料,其中,所述六角形至圆形的平板状金属颗粒的主平面相对于所述金属颗粒含有层的一个表面为平均0°~±30°的面取向。
13.如权利要求1~12中任一项所述的热射线遮蔽材料,其中,所述金属颗粒含有层的表面的铅笔硬度是B以上。
14.如权利要求1~13中任一项所述的热射线遮蔽材料,所述热射线遮蔽材料反射红外线。
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