[发明专利]用于通过自动检测入射辐射而控制光电探测器的方法

权利要求书

1.一种用于控制光敏器件(10)的方法，所述光敏器件(10)包括列导线(Y₁-Y₃)、行导线(X₁-X₃)以及光敏点(P_p)，每个光敏点(P_p)链接在所述列导线(Y₁-Y₃)和所述行导线(X₁-X₃)中的一条之间，并且包括适用于将光子流转换成电荷的光敏元件(D_p)，以及由对应的行导线(X₁-X₃)控制的晶体管(T)，所述晶体管(T)在采集阶段期间被控制在关断状态，在所述采集阶段期间光子流被转换成电荷，并且所述晶体管(T)在读取阶段期间依次被控制在开启状态，从而将电荷逐行转移到所述列导线(Y₁-Y₃)，在关断状态下，每个晶体管(T)在对应的光敏元件(P_p)和列导线(Y₁-Y₃)之间引入杂散耦合电容(C)，所述方法的特征在于，所述方法包括步骤(21、22)，所述步骤(21、22)包括当所述晶体管(T)被控制在关断状态时，在不同的时刻t_n-2、t_n-1、t_n确定在所述列导线(Y₁-Y₃)上的电位。

2.根据权利要求1所述的方法，包括如下额外的步骤：

·当所述晶体管(T)被控制在关断状态时，在第二时刻t_n确定在所述列导线(Y₁-Y₃)上的电位(22)，

·确定在第一时刻t_n-1和第二时刻t_n之间在所述列导线(Y₁-Y₃)上的电位的差(23)，

·将电位差与预先确定的阈值进行比较(24)，

·如果所述电位差大于所述预先确定的阈值，则依次控制所述晶体管(T)，以便将每个光敏点(P_p)的电荷单个转移到所述列导线(Y₁-Y₃)(25)。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述步骤(21、22)包括周期性地重复确定所述列导线(Y₁-Y₃)上的电位直到最后两个确定时刻之间的电位差不大于所述预先确定的阈值，然后执行控制所述晶体管(T)的步骤(25)。

4.根据权利要求3所述的方法，其中连续两次确定列导线上的电位的周期的持续时间(T_v)小于最小持续时间(d_x)，在所述最小持续时间期间所述光敏器件(10)能够曝光于光子流。

5.根据权利要求2至4中的一项所述的方法，其中以避免在光敏元件(P_p)没有曝光于光子流的情况下执行控制所述晶体管(T)的步骤(25)的方式，并且以避免在所述光敏元件(P_p)有效曝光之后未执行控制所述晶体管(T)的步骤(25)的方式，来确定所述阈值。

6.根据权利要求2所述的方法，其中对于确定电位的同一步骤(21、22)，连续多次确定在所述列导线(Y₁-Y₃)上的电位，在确定其与其他电位的差之前，平均不同的电位，从而降低与电位的确定相关联的噪声。

7.根据权利要求2所述的方法，其中所述光敏器件(10)包括若干列导线(Y₁-Y₃)，每个光敏点(P_p)连接在所述列导线(Y₁-Y₃)中的一条和行导线(X₁-X₃)中的一条之间，以便形成光敏点(P_p)的阵列(11)，在每个对应的步骤(21、22)中确定在若干列导线(Y₁-Y₃)上的电位，对于所述列导线(Y₁-Y₃)中的每一条执行确定电位差的步骤(23)，并且将所述电位差与所述预先确定的阈值进行比较的步骤(24)考虑所有的电位差。