[发明专利]管理非易失性存储器的耐久性的方法有效
申请号: | 201280040808.1 | 申请日: | 2012-06-22 |
公开(公告)号: | CN103842974A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | S·沙布约;Y·富塞拉;S·里卡尔 | 申请(专利权)人: | 星芯公司 |
主分类号: | G06F12/02 | 分类号: | G06F12/02;G11C16/34 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 管理 非易失性存储器 耐久性 方法 | ||
1.一种管理数据存储系统的耐久性的方法,所述数据存储系统配置有与原始耐久性能力(G)相关联的扇区集合,所述方法包括下列步骤:
-将所述数据存储系统分成多个工作扇区以及分成多个能够形成耐久性蓄积库的空闲扇区,工作扇区中的一些意在当所述工作扇区在多次编程和/或擦除周期之后损坏时,由空闲扇区进行替换;
-定义地址管理区域,以寻找被分配给损坏工作扇区的替换扇区的位置;
-逐个扇区地确定当前工作扇区是否在物理上是损坏的,并且仅当所述当前工作扇区声明是物理上的损坏时,才执行由空闲扇区替换该工作扇区的步骤;
-其特征在于,在扇区中的存储点的擦除质量的自动读取与边缘读取标准(边缘Vref)进行比较,边缘读取标准换言之就是比正常标准(正常Vref)更严格,用以测量扇区的磨损。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于擦除扇区的单脉冲被若干更短的顺序施加的脉冲所代替,并且在于,在每个脉冲之后执行擦除质量测试,如果所述质量测试在最大预定义数目的脉冲和测试之后仍然是否定的,则工作存储器扇区声明是损坏的。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于:
-具有正规结构的完全通用的存储器将被使用,其中在原始扇区和空闲扇区之间不存在物理差异;
-空闲扇区的数目能够由终端用户根据目标耐久性需求来确定;
-由空闲扇区替换的工作扇区自身变为能够在其已经达到其物理磨损阈值时被替换的工作扇区。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,对于重构在被替换扇区和替换扇区之间的路径,使用非易失性存储器管理区域,其中在区域中的每个元素被指定给替换扇区,并且为被替换的原始扇区的地址。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在访问原始扇区期间,实时确定利用管理区域的在所述原始扇区和所述替换扇区之间的重构路径。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,当电路上电时,重构在所述原始扇区和所述替换扇区之间的路径,并且将在所述原始扇区和最终替换扇区之间的捷径存储在RAM存储器中。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,更新管理区域的方法被设计成抵抗电源损耗,以防止所述管理区域的毁坏。
8.一种用于实施根据前述权利要求中任一项所述的耐久性管理方法的装置,其特征在于,其包括被分成多个工作扇区和空闲扇区的存储器、用于管理空闲扇区的区域,以及能够执行在根据权利要求1到7中任一项所述的方法中的步骤的逻辑控制器。
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