[发明专利]成像系统框架倾斜支撑件

说明书

技术领域

下文大体上涉及成像系统且与应用到计算机断层摄影（CT）的具体应用一起被描述。然而，将意识到的是下文同样适于其他成像形式。

背景技术

参考图1，传统计算机断层摄影（CT）扫描仪100大体上包括被固定框架102旋转支撑的旋转框架101。所述旋转框架101至少支撑x射线管103，所述x射线管发射辐射，辐射贯穿检查区域和在其中的物体或受检者的一部分。受检者支撑件120（图4）支撑检查区域中的受检者或物体。图示的旋转框架101还支撑探测器阵列105，所述探测器阵列位于横跨所述检查区域与所述辐射源103相对的位置，并且所述探测器阵列探测贯穿所述检查区域的辐射。所述探测器阵列105生成信号，所述信号被重构以生成体图像数据（volumetric image data）。扫描在旋转框架处于竖直非倾斜位置（图1）或倾斜位置下被执行。

如图1、2、3和4中所示，对于图示的CT扫描仪100，固定框架102包括（通过框架基座104表面范围内的四（4）至六（6）个或其他数量的不同点）被安装至检查室地板的框架基座104（图1、2和4）；从所述框架基座104竖直向上延伸至接近所述检查区域（图1）的中心110的高度的侧支撑件106（图1、2和4）；位于所述侧支撑件106中接近所述检查区域的中心110的高度处（例如位于所述系统（图1）的重心处）的倾斜支撑件112（图1和4），诸如球轴承或其他轴承；以及倾斜支架114（图1和4），所述倾斜支架包括旋转支撑所述旋转框架101的支撑支架115（图1和3）。

关于图1和4，所述倾斜支架114被构造成沿着倾斜轴线118围绕所述倾斜支撑件112倾斜，所述倾斜轴线在所述检查区域的中心110或可替代地系统的重心（图1）附近从侧支撑件106横向延伸至侧支撑件106。如同围绕所述倾斜轴线118倾斜所述旋转框架101这样地倾斜所述倾斜支架114。所述倾斜支架114和所述旋转框架101能够从竖直（或非倾斜）位置402倾斜至背部（倾斜）位置（如图4所示）和/或倾斜至前部（倾斜）位置（未示出）。当在所述背部位置404倾斜时，所述倾斜支架114的底部126（图4）突出越过所述框架基座104一定距离128，这样使得受检者支撑件120的支撑基座122不得不位于至少离开所述框架基座104距离128处，以避免与倾斜的倾斜支架114发生碰撞。

对于图1中的所述扫描仪100，所述框架基座104和侧支撑件106形成了大体上呈“U”形的组件（图1和2），具有相对大的横向宽度130（图2）且所述侧支撑件106向上延伸越过所述检查区域的中心110（图1）并连接至所述倾斜支架114和所述支撑支架115（图1）的外侧。结果是，所述框架基座104（图1、2和4）和所述支撑支架115（图1和3），以及因此所述系统100，趋于相对大、笨重和/或昂贵。高顺从度设计将对可被允许的旋转框架不平衡产生不合需要的紧密约束，与此同时较低顺从度能够通过更高的支架刚度和支架界面之间更紧密的公差来实现，而这将增加成本。更具体地说，传统倾斜设计的横向刚度始终是个挑战，并且除了倾斜之外在所有轴中或附近的固有的高刚度大体上是所希望的。此外，在所述框架基座104的很大区域上紧密的地面平整度公差（floor flatness tolerances）是需要的，以限制施加在所述基座支撑件上的负载或扭曲的量。

地面平整度公差可以通过在所述倾斜支撑件位置之间增加重要结构而被减小，这会增加成本。而且，所述倾斜支撑件112的轴承的摩擦导致磨损和扭矩变化。另外，所述受检者支撑件120的可扫描范围通过所述受检者支撑件120的台面124延伸穿过所述检查区域的幅度被限定。使所述倾斜支架114围绕所述倾斜轴线118倾斜的结果是如上文所讨论的那样，由于所述支撑基座122不得不离开所述框架基座104至少距离128，所以可扫描范围减少了距离128，或者可选地，所述台面124（包括具有引导件、轴承、运动装置等的滑架系统）的长度不得不被增大，以补偿所述可扫描距离128的损失，这将增加所述受检者支撑件120的成本。另外，所述基座104和台面124（包括所述滑架等）应该具有足够刚度，以在预设公差范围内保持偏转的同时，适应大的悬垂负载。

发明内容

本申请的各个方面解决了上文所指出的问题和其他问题。