[发明专利]在可编程元件不被信任的情况下的存储器管芯的自禁用

权利要求书

1.一种方法，包括：

确定存储器管芯上的用于指示所述存储器管芯是否有缺陷的可编程元件是否能够被信任（704），所述存储器管芯是存储器封装中的多个存储器管芯中的第一存储器管芯；以及

如果所述可编程元件不能够被信任，则撤消提供给所述第一存储器管芯的芯片启用信号（706）。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

如果所述可编程元件能够被信任并且如果所述可编程元件指示所述存储器管芯有缺陷，则撤消对所述第一存储器管芯的所述芯片启用信号。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述可编程元件是所述第一存储器管芯上的存储器区域，所述确定所述可编程元件是否能够被信任包括：

确定所述第一存储器管芯上的所述存储器区域是否通过了功能性测试。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述确定所述第一存储器管芯上的所述存储器区域是否通过了功能性测试包括：

确定所述第一存储器管芯上的所述存储器区域是否通过了校验和测试。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其中，所述确定所述第一存储器管芯上的所述存储器区域是否通过了功能性测试是在通电复位时进行的。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中，所述撤消所述芯片启用信号包括生成在所述第一存储器管芯内部的内部芯片启用信号，所述内部芯片启用信号将提供给所述第一存储器管芯的外部芯片启用信号撤消。

7.根据权利要求6所述的方法，还包括给所述多个存储器管芯中的每一个存储器管芯提供所述外部芯片启用信号。

8.一种非易失性存储设备，包括：

多个存储器管芯（202），每个所述存储器管芯具有：

从所述存储器管芯之外接收外部芯片启用信号的芯片启用输入（222）；

用于存储对所述存储器管芯是否有缺陷的指示的可编程元件（1）；以及

与所述芯片启用输入进行通信的电路（242），如果所述可编程元件不被信任，则所述电路撤消所述外部芯片启用信号。

9.根据权利要求8所述的非易失性存储设备，其中，如果所述可编程元件被信任并且所述可编程元件指示所述存储器管芯有缺陷，则所述电路撤消所述外部芯片启用信号。

10.根据权利要求8或9所述的非易失性存储设备，其中，所述多个存储器管芯的芯片启用输入被电连接。

11.根据权利要求8至10中任一项所述的非易失性存储设备，其中，所述可编程元件是在成型工艺和封装工艺之后能够被写入的ROM熔丝。

12.根据权利要求8至10中任一项所述的非易失性存储设备，其中，所述可编程元件是非易失性存储区域。

13.根据权利要求12所述的非易失性存储设备，其中，所述电路能够通过确定所述非易失性存储区域是否通过了功能性测试来确定所述可编程元件是否能够被信任。

14.根据权利要求12所述的非易失性存储设备，其中，所述电路能够通过确定所述非易失性存储区域是否通过了校验和测试来确定所述可编程元件是否能够被信任。

15.一种非易失性存储设备，包括：

多个存储器管芯（202），每个所述存储器管芯具有：

从所述存储器管芯之外接收外部芯片启用信号的芯片启用输入（222）；

装置（1），用于存储对所述存储器管芯是否有缺陷的指示；以及

装置（242），用于如果所述可编程元件不被信任，则撤消所述外部芯片启用信号。