[发明专利]用于定量样品中目标分析物的组合物、方法和试剂盒有效
申请号: | 201280036810.1 | 申请日: | 2012-06-06 |
公开(公告)号: | CN103782166B | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | D.P.库珀 | 申请(专利权)人: | 沃特世科技公司 |
主分类号: | G01N30/86 | 分类号: | G01N30/86 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 张萍,李炳爱 |
地址: | 美国麻*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 定量 样品 目标 分析 组合 方法 试剂盒 | ||
1.一种通过质谱法定量目标分析物的方法,所述目标分析物选自甾体、免疫抑制剂、甲状腺标志物、维生素或其代谢物和阿片剂,各自具有3至30个碳原子,所述方法包括:
获得来自单个样品的质谱信号,其包括第一校准物信号、包含第二校准物信号,并且包含目标分析物信号,所述单个样品含有第一已知量的第一校准物、第二已知量的第二校准物和目标分析物,
其中所述第一已知量和所述第二已知量不同,并且其中所述第一校准物和所述第二校准物各自为所述目标分析物的不同的稳定的同位素类似物,并且其中所述第一校准物、所述第二校准物以及所述目标分析物可通过质谱法在所述单个样品中各自区分;和
使用所述第一校准物信号、所述第二校准物信号以及所述目标分析物信号来定量所述单个样品中的所述目标分析物。
2.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
通过合并在包含所述目标分析物的单个样品中的所述第一已知量的所述第一校准物和所述第二已知量的所述第二校准物来制备所述单个样品;和
使用质谱仪由所述单个样品生成所述质谱信号。
3.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
在获得所述质谱信号之前,将所述第一校准物、所述第二校准物以及所述目标分析物与所述单个样品的其它组分分离。
4.根据权利要求3所述的方法,其中所述分离包括色谱法和所述第一校准物、所述第二校准物以及所述目标分析物共洗脱。
5.根据权利要求3所述的方法,其中所述分离包括色谱法和所述第一校准物、所述第二校准物以及所述目标分析物分别洗脱。
6.根据权利要求3所述的方法,其中所述分离包括固相提取法、液相色谱法、气相色谱法、亲和色谱法、免疫亲和色谱法,以及超临界流体色谱法中的至少一种。
7.根据权利要求1所述的方法,其中定量所述目标分析物包括:
由所述第一校准物信号和所述第二校准物信号获得校准曲线;和
使用所述校准曲线和所述目标分析物信号来定量所述目标分析物。
8.根据权利要求1所述的方法,其中定量所述目标分析物包括:
使用所述第一校准物信号、所述第二校准物信号,以及所述目标分析物信号来在代数上定量所述目标分析物。
9.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
由所述质谱信号获得来自所述单个样品的第三校准物信号、第四校准物信号以及其它目标分析物信号,所述单个样品包含第三已知量的第三校准物,包含第四已知量的第四校准物,并且包含其它目标分析物,
其中所述第三已知量和所述第四已知量不同,并且其中所述第一校准物、所述第二校准物、所述第三校准物、所述第四校准物、所述目标分析物,以及所述其它目标分析物可通过质谱法在所述单个样品中各自区分;和
使用所述第三校准物信号、所述第四校准物信号,以及所述其它目标分析物信号来定量所述单个样品中的所述其它目标分析物。
10.根据权利要求9所述的方法,其进一步包括:
由所述质谱信号获得来自所述单个样品的第五校准物信号、第六校准物信号,以及第二其它目标分析物信号,所述单个样品包含第五已知量的第五校准物,包含第六已知量的第六校准物,并且包含第二其它目标分析物,
其中所述第五已知量和所述第六已知量不同,并且其中所述第一校准物、所述第二校准物、所述第三校准物、所述第四校准物、所述第五校准物、所述第六校准物、所述目标分析物、所述其它目标分析物,以及所述第二其它目标分析物可通过质谱法在所述单个样品中各自区分;和
使用所述第五校准物信号、所述第六校准物信号,以及所述第二其它目标分析物信号来定量所述单个样品中的所述第二其它目标分析物。
11.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
由所述质谱信号获得来自所述单个样品的第三校准物信号,所述单个样品进一步包含第三已知量的第三校准物,
其中所述第一已知量、所述第二已知量,以及所述第三已知量不同,并且其中所述第一校准物、所述第二校准物、所述第三校准物,以及所述目标分析物可通过质谱法在所述单个样品中各自区分,和
其中定量所述目标分析物进一步包括使用所述第三校准物。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沃特世科技公司,未经沃特世科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201280036810.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:创伤敷料及其制备方法
- 下一篇:一种汽车轴承支架两侧端面的加工方法