[发明专利]具有半导体开关和所属控制电路的电路装置有效

专利信息
申请号: 201280035688.6 申请日: 2012-07-13
公开(公告)号: CN103891143B 公开(公告)日: 2016-10-26
发明(设计)人: 卡斯滕·汉特;马克·希勒;赖纳·佐默 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: H03K17/082 分类号: H03K17/082;H03K17/10
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;李慧
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 具有 半导体 开关 所属 控制电路 电路 装置
【权利要求书】:

1.一种电路装置(74,76),具有由至少两个半导体开关(44,78)构成的串联电路(80),其中每个半导体开关通过其控制输入端(50)与相应的控制电路(42,82)连接,所述控制电路设计用于,根据能预给定的开关信号(S1,Sn)通断所述半导体开关(44,78),其中,在通断过程中,所述控制电路(42,82)中的至少一个的开关特性通过至少一个数字通断参数确定,所述通断参数的数值(K1*UzK,K2*UzK,K1(1)*UzK,K2(1)*UzK,K1(n)*UzK,K2(n)*UzK,dt1,dtn)是能变化的,使得能在运行过程中设定所述开关特性。

2.根据权利要求1所述的电路装置(74,76),其中,所述控制电路(42,82)中的至少一个具有电压监控装置(64),所述电压监控装置设计用于监控经过在由所述控制电路(42,82)控制的所述半导体开关(44,78)下降的电压(Ud,Uce,U1max,Un,max)并且,在所述电压(Ud,Uce,U1max,Un,max)大于极限值(K1*UzK,K1(1)*UzK,K1(n)*UzK)的情况下,通过影响所述通断过程降低所述电压(Ud,Uce,U1max,Un,max),其中,所述极限值(K1*UzK,K1(1)*UzK,K1(n)*UzK)能设定作为所述控制电路(42,82)的通断参数。

3.根据权利要求1或2所述的电路装置(74,76),其中,在所述控制电路(42,82)中的至少一个中能设定电压终值(K2*UzK,K2(1)*UzK,K2(n)*UzK)作为通断参数,经过由所述控制电路(42,82)控制的所述半导体开关(44,78)下降的电压(Ud,Uce,U1,Un)在通断过程结束时应具有所述电压终值,其中所述控制电路(42,82)设计用于,为了设定用于结束所述通断过程的所述电压终值(K2*UzK,K2(1)*UzK,K2(n)*UzK)在所述半导体开关(44,78)的所述控制输入端(50)处产生至少一个对称脉冲。

4.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置(74,76),其中,在所述控制电路(42,82)中的至少一个中能设定开关延迟(dt1,dtn)作为通断参数,并且其中,所述控制电路(42,82)设计用于,在接收所述开关信号(S1,Sn)后,延迟了经过设定的所述开关延迟(dt1,dtn)之后开始通断过程。

5.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置(74,76),其中,所述控制电路(42,82)中的至少一个具有用于测量经过所述半导体开关(44,78)中的至少一个下降的电压(Ud,Uce)的电压测量装置(64)以及测量输出端(68),在所述测量输出端处能读取测量值(U1,U1max,Un,Un,max)。

6.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置(74,76),具有调节装置(88,88’),所述调节装置设计用于求出经过所有半导体开关(44,78)下降的总电压(Uzk),并从求出的所述总电压(Uzk)中为每个所述半导体开关(44,78)求出分电压值,并将求出的所述分电压值作为参数值(K1*UzK,K2*UzK,K1(1)*UzK,K2(1)*UzK,K1(n)*UzK,K2(n)*UzK)传输给分别所属的所述控制电路(42,82)。

7.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置(74,76),具有调节装置(88,88’),所述调节装置设计用于为至少一个控制电路(42,82)求出在所述控制电路(42,82)的通断过程的起点之间引起时间差的数值,并从求出的所述数值中求出时间延迟,并将求出的所述时间延迟作为参数值(dt1,dtn)传输给所述控制电路(42,82)中的一个。

8.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置(74,76),其中,所述控制电路(42,82)中的至少一个设计用于通过光纤连接(54,70,84,90)与外部装置(86,86’)交换信号。

9.根据前述权利要求中任一项所述的电路装置(74,76),其中,所述控制电路(42,82)中的至少一个设计用于借助于容错的传输协议与外部装置(86,86’)交换信号。

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