[发明专利]用于检测DUT的信号特性的ATE

说明书

技术领域

本专利申请整体涉及被构造成可检测被测器件(DUT)的信号特性的自动测试设备(ATE)。

背景技术

ATE测试DUT的信号特性。例如，ATE可测定DUT的信噪比(SNR)。然而，如果ATE的本底噪声高于DUT的噪声性能水平，则会出现问题。这意味着ATE的噪声比DUT的噪声大。因此ATE的噪声干扰DUT的噪声测量。结果，ATE不能精确测量DUT的噪声特性。

发明内容

本专利申请描述用于检测DUT的信号特性（例如，DUT的信噪比(SNR)）的方法和设备。

此外，本专利申请还描述自动测试设备(ATE)，该自动测试设备(ATE)包括：被测器件(DUT)，其用于从中获取包含确定性的和随机的（本底噪声）谱内容的输出信号；电路，其用于将源自DUT的激励信号拆分成第一信号和第二信号；第一ATE通道，其用于接收第一信号，其中第一ATE通道将第一本底噪声加至第一信号而产生第一通道信号；第二ATE通道，其用于接收第二信号，其中第二ATE通道将第二本底噪声加至第二信号而产生第二通道信号；以及处理逻辑部分，其用于：估计源自DUT的信号中的确定性谱分量的第一功率，以及基于第一通道信号和第二通道信号估计第二总功率。ATE可包括本专利申请中所述的任一个或多个特征，所述特征的例子如下。

处理逻辑部分可包括用于基于第一通道信号和第二通道信号的互相关来估计第二总功率的电路。所述电路可包括用于在来自第一通道和第二通道的样本正被捕捉的同时根据互相关来累加值的单个累加器。

DUT信号中的确定性谱分量可包括至少一个频率。处理逻辑部分可包括用于估计第一功率的电路，并且该所述电路可包括与生成第一通道信号的第一组系数的第一通道相对应的第一单箱离散傅里叶变换(DFT)块以及与生成第二通道信号的第二组系数的第二通道相对应的第二单箱离散傅里叶变换(DFT)块。

第一和第二单箱离散傅里叶变换(DFT)块中的至少一者可包括第一累加器和第二累加器，第一累加器和第二累加器分别用于在来自第一通道和第二通道的样本正被捕捉的同时累加对应组的系数。第一累加器可被配置为累加系数的实部并且第二累加器可被配置为累加系数的虚部。所述至少一个频率可包括基频和/或基频的谐波。

电路可被配置为接收来自第一和第二单箱离散DFT块的系数并且组合这些系数以确定第一功率。第一功率可在固定数量的时间点内加以估计。

处理逻辑部分可被构造成根据第一功率和第二总功率来计算本底噪声。计算的本底噪声可低于第一本底噪声和第二本底噪声。处理逻辑部分可被构造成计算DUT的信噪比。处理逻辑部分可包括现场可编程门阵列(FPGA)。第二总功率可包括第一通道信号和第二通道信号的互相关的合计功率。

此外，本专利申请还描述由自动测试设备(ATE)执行的方法，该方法包括：将来自被测器件(DUT)的包含确定性的和随机的（本底噪声）谱分量这两者的激励信号拆分成第一信号和第二信号；在ATE的第一通道中接收第一信号，其中第一通道将第一本底噪声加至第一信号而产生第一通道信号；在ATE的第二通道中接收第二信号，其中第二通道将第二本底噪声加至第二信号而产生第二通道信号；以及使用处理逻辑部分来：估计源自DUT的确定性激励信号的第一功率；以及基于第一通道信号和第二通道信号估计第二总功率。ATE可包括本专利申请中所述的任一个或多个特征，所述特征的实例如上所述。

此外，本专利申请还描述ATE，该ATE包括：ATE参考源通道，其用于产生包含确定性的和随机的（不期望的本底噪声）谱分量这两者的激励信号；电路，其用于将参考源信号拆分成第一信号和第二信号；第一DUT，其用于接收第一信号，其中第一DUT具有第一本底噪声以产生第一通道信号；第二DUT，其用于接收第二信号，其中第二DUT具有第二本底噪声以产生第二通道信号；以及处理逻辑部分，其用于：估计第一DUT通道的第一功率；估计第二DUT通道的第二功率；使用第一通道信号和第二通道信号的互相关来估计第一DUT通道与第二DUT通道之间的相关功率；以及基于第一功率、第二功率和相关功率来估计第一DUT通道噪声功率和第二DUT通道噪声功率。ATE可包括本专利申请中所述的任一个或多个特征，所述特征的例子如下。

处理逻辑部分可包括用于基于第一通道信号的自相关来估计第一功率的电路。所述电路可包括用于在来自第一通道的样本正被捕捉的同时根据自相关来累加值的单个累加器。