[发明专利]图像拾取设备、图像拾取元件,和用于校正灵敏度差异的方法有效

专利信息
申请号: 201280034640.3 申请日: 2012-06-21
公开(公告)号: CN103650487A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 河合智行 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: H04N9/07 分类号: H04N9/07
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 陈依虹;刘光明
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 图像 拾取 设备 元件 用于 校正 灵敏度 差异 方法
【权利要求书】:

1.一种图像拾取设备,包括:

图像拾取元件,所述图像拾取元件被配置为,使得多个滤色器分别地布置在多个像素上,所述多个像素包括在水平方向和竖直方向上二维排列的光电转换元件;

存储装置,所述存储装置被配置为存储用于校正在所述图像拾取元件的所述多个像素之间的灵敏度差异的信息;和

灵敏度差异校正装置,所述灵敏度差异校正装置被配置为通过使用存储在所述存储装置中的信息来校正在所述图像拾取元件的所述多个像素之间的所述灵敏度差异,

其中,所述图像拾取元件的所述多个像素以2×2个像素为单位共享特定电路元件,

其中,所述图像拾取元件的所述多个滤色器被配置为,使得在所述水平方向和所述竖直方向上反复地布置基本阵列样式,所述基本阵列样式中的每一个由I×J个滤色器(I代表在所述水平方向上的数目,而J代表在所述竖直方向上的数目)构成,在所述基本阵列样式中的每一个中,三个或者更多颜色中的每一个的滤色器以混合状态排列,

基本阵列样式的布置周期(I×J)不同于由所述特定电路元件和所述2×2个像素构成的共享配置样式的布置周期(2×2),并且

所述基本阵列样式包括至少一个同色正方形阵列样式,所述同色正方形阵列样式由分别地布置在所述共享配置样式的所述2×2个像素上的2×2个滤色器构成,所述2×2个滤色器具有相同颜色,

其中,所述存储装置存储关于与所述同色正方形阵列样式相对应的所述2×2个像素的灵敏度的信息,根据与所述同色正方形阵列样式相对应的所述2×2个像素的输出值来计算所述灵敏度,并且

其中,所述灵敏度差异校正装置通过使用存储在所述存储装置中的、关于与所述同色正方形阵列样式相对应的所述2×2个像素的所述灵敏度的所述信息来校正与所述图像拾取元件的拾取图像相对应的全部像素的灵敏度差异。

2.根据权利要求1所述的图像拾取设备,进一步包括:

检测装置,所述检测装置被配置为根据与所述同色正方形阵列样式相对应的所述2×2个像素的所述输出值来检测关于所述灵敏度的所述信息,

其中,所述存储装置存储由所述检测装置检测的关于所述灵敏度的所述信息。

3.根据权利要求2所述的图像拾取设备,

其中,当在所述图像拾取元件中,在与所述同色正方形阵列样式相对应的所述2×2个像素中的第k像素(k代表指示相对于所述特定电路元件的位置的、从1到4的整数)的坐标位置被定义为C[k]时,

在利用光照射所述图像拾取元件的所述多个像素的光照射状态中,所述检测装置对于两个或者更多基本阵列样式中的每一个,获取第一像素的输出值Data(C[1])、第二像素的输出值Data(C[2])、第三像素的输出值Data(C[3]),和第四像素的输出值Data(C[4]),遍及所述两个或者更多基本阵列样式计算每一个第k像素组的输出值Data(C[k])的平均值S[k]作为灵敏度,并且

所述检测装置进一步计算指示在第一像素组的输出值的平均值S[1]、第二像素组的输出值的平均值S[2]、第三像素组的输出值的平均值S[3],和第四像素组的输出值的平均值S[4]之间的比率的信息,作为关于所述灵敏度的所述信息。

4.根据权利要求3所述的图像拾取设备,

其中,所述检测装置从所述输出值的平均值S[k](k代表从1到4的整数)之中提取最大值Smax,并且计算补偿增益Gain[k]=Smax/S[k]作为关于所述灵敏度的所述信息。

5.根据权利要求2所述的图像拾取设备,

其中,当在所述图像拾取元件中,在所述共享配置样式的所述2×2个像素中的第k像素(k代表指示相对于所述特定电路元件的位置的、从1到4的整数)的坐标位置被定义为CC[k]时,

在所述图像拾取元件的所述多个像素被屏蔽光的光屏蔽状态中,所述检测装置对于两个或者更多共享配置样式中的每一个获取第一像素的输出值BData(CC[1])、第二像素的输出值BData(CC[2])、第三像素的输出值BData(CC[3]),和第四像素的输出值BData(CC[4]),并且遍及所述两个或者更多共享配置样式计算每一个第k像素组的输出值BData[k]的平均值B[k],并且

所述存储装置存储由所述检测装置获取的所述平均值B[k]作为黑色电平。

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