[发明专利]成像系统探测器校准有效

专利信息
申请号: 201280034114.7 申请日: 2012-07-12
公开(公告)号: CN103648391A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: R·卡尔米 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 成像 系统 探测器 校准
【权利要求书】:

1.一种系统(100),包括:

固定机架(102);

旋转机架(104),其中,所述旋转机架由所述固定机架能旋转地支撑,所述旋转机架(104)包括:

初级源(110),其发射初级辐射;以及

探测器阵列(116),其具有沿纵轴延伸的至少一排探测器元件(502),

其中,所述初级源和所述探测器阵列被定位为彼此相对,位于检查区域两侧,并且所述初级辐射穿过处于所述初级源与所述探测器元件之间且通过检查区域(106)的路径(112)并且照射所述探测器阵列的所述至少一排探测器元件,所述至少一排探测器元件探测所述初级辐射;以及

补充源(114),其中,所述补充源被附接到所述系统的非旋转部分并且发射辐射,所述辐射穿过所述路径的子部分并照射所述探测器阵列的所述至少一排探测器元件,所述至少一排探测器元件探测二级辐射。

2.如权利要求1所述的系统,其中,所述补充源为线源,其具有沿所述线源的纵轴空间分布的辐射发射区域的阵列(404)。

3.如权利要求2所述的系统,其中,所述线源被关于所述探测器阵列空间取向为使得所述线源的长轴横向于所述探测器阵列的所述纵轴。

4.如权利要求2至3中任一项所述的系统,其中,随着所述探测器阵列旋转通过经过二级辐射源的路径,所述线源顺序地照射所述探测器元件。

5.如权利要求1至4中任一项所述的系统,其中,所述补充源被配置为在第一位置与第二位置之间移动,在所述第一位置中,所述补充源在所述初级源与所述探测器阵列之间的所述路径之中,在所述第二位置中,所述补充源在所述初级源与所述探测器阵列之间的所述路径之外,并且其中,所述补充源被驱动为仅在所述补充源在所述第二位置时发射辐射。

6.如权利要求1至5中任一项所述的系统,其中,由所述补充源发射的所述辐射为连续、非脉冲辐射。

7.如权利要求1至6中任一项所述的系统,还包括:

受试者支撑体(108),其被配置为在所述检查区域中定位要扫描的结构以供扫描,其中,所述补充源定位于所述受试者支撑体与所述探测器阵列之间。

8.如权利要求1至7中任一项所述的系统,所述探测器阵列包括:

第一外部探测器(1161)和第二外部探测器(1162),其具有第一增益;以及

内部探测器(1163),其具有第二增益并且定位于所述第一外部探测器与所述第二外部探测器之间,其中,所述第一增益关于时间比所述第二增益更稳定。

9.如权利要求1至8中任一项所述的系统,还包括:

探测器增益校准确定器(118),其基于使用所述初级源在空气扫描期间采集的数据以及使用所述补充源采集的数据来确定针对所述探测器阵列的探测器增益校准数据。

10.如权利要求9所述的系统,所述探测器增益校准数据确定器包括:

空气扫描处理器(120),其基于使用所述初级源采集的所述数据来生成空气扫描校准数据;

补充扫描处理器(122),其基于使用所述补充源结合所述空气扫描而采集的第一数据来生成第一校准更新数据,并且基于使用所述补充源结合对象或受试者扫描而采集的第二数据来生成第二校准更新数据;以及

校准数据更新器(124),其基于所述第一校准更新数据和所述第二校准更新数据来更新所述空气扫描校准数据,生成探测器增益校准数据。

11.如权利要求10所述的系统,其中,所述第一校准更新数据和所述第二校准更新数据更新所述空气扫描校准数据,以考虑所述探测器阵列中的增益改变。

12.如权利要求10至11中任一项所述的系统,还包括:

探测器增益校正器(128),其利用所生成的探测器增益校准数据来校正在所述对象或受试者扫描期间采集的投影数据,产生经校正的投影数据;以及

重建器(130),其重建所述经校正的投影数据,产生体积图像数据。

13.如权利要求9至12中任一项所述的系统,其中,所述补充源被驱动为当对象或受试者处于所述检查区域中时发射辐射。

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