[发明专利]用于使用热成像检测和修复电致变色装置中的缺陷的系统和方法无效

专利信息
申请号: 201280026187.1 申请日: 2012-03-29
公开(公告)号: CN103562962A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 史蒂夫·帕姆;让·克利斯朵夫·吉龙;菲利普·雷托卡特;杰罗姆·卢瑟拉德;奥利维尔·塞列斯;卡佳·维尔纳 申请(专利权)人: 赛智电致变色公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G01N25/72;H01L31/20
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 倪小敏
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 使用 成像 检测 修复 变色 装置 中的 缺陷 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于检测和修复电致变色装置中的缺陷的系统,所述系统包含:

热成像单元,用于获取所述装置处于运行状态时所述电致变色装置的热图像;以及

控制单元,用于使用代表所述热图像的热成像数据,通过将在所述热图像的一个或多个像素检测到的热幅度与预定的值相比较,检测所述电致变色装置上的缺陷,并且确定所述装置中与检测到的缺陷相对应的位置。

2.根据权利要求1所述的系统,所述系统进一步包含:

激光装置单元,用于发射激光,从而烧蚀所述装置中与检测到的缺陷相对应的位置。

3.根据权利要求1所述的系统,所述系统进一步包含:

冷却器单元,用于控制获取热图像时所述装置的温度。

4.根据权利要求1所述的系统,其中当在一个或多个像素检测到的热幅度不小于预定的值时,所述控制单元确定所述一个或多个像素对应于所述装置上缺陷的位置。

5.根据权利要求1所述的系统,其中所述控制单元处理所述热成像数据,以提高信号噪声比,所述信号噪声比是对应于检测到的缺陷的热图像部分的热幅度,与对应于检测到的缺陷的热图像部分附近的热图像部分的热幅度的比。

6.根据权利要求1所述的系统,其中所述控制单元用于控制设有所述装置的表面的热状态,该表面与得到所述热图像的所述装置的表面相反。

7.根据权利要求6所述的系统,其中所述控制单元用于控制所述表面的热状态,从而提高信号噪声比,所述信号噪声比是对应于检测到的缺陷的热图像部分的热幅度,与对应于检测到的缺陷的热图像部分附近的热图像部分的热幅度的比。

8.根据权利要求1所述的系统,其中所述预定的值不同于从所述电致变色装置的热图像确定的热幅度。

9.根据权利要求1所述的系统,其中所述预定的值对应于从所述热图像数据确定的热幅度。

10.根据权利要求1所述的系统,其中所述控制单元使用锁定方法,处理分别代表由所述热成像单元得到的一系列热图像的所述热成像数据,以提高检测到的缺陷的信号噪声比。

11.根据权利要求1所述的系统,所述系统进一步包含:

修复单元,用于向所述装置施加电流,从而修复检测到的缺陷。

12.根据权利要求11所述的系统,其中所述控制单元根据所述热成像数据控制所述修复单元。

13.一种使用热成像检测和修复电致变色装置中的缺陷的方法,所述方法包含:

获取所述装置处于运行状态时所述电致变色装置的热图像;以及

处理代表所述热图像的热成像数据,通过将在所述热图像的一个或多个像素检测到的热幅度与预定的值相比较,检测所述电致变色装置上的缺陷,并且确定所述电致变色装置中与检测到的缺陷相对应的位置。

14.根据权利要求13所述的方法,所述方法进一步包含:

根据被确定的位置,控制所述电致变色装置上检测到的缺陷的修复。

15.根据权利要求14所述的方法,其中所述修复包含:发射激光,从而烧蚀所述装置中与检测到的缺陷相对应的位置。

16.根据权利要求14所述的方法,所述方法进一步包含:

在从包含多个电致变色装置中的所述电致变色装置的面板切割所述电致变色装置之前,进行所述修复。

17.根据权利要求13所述的方法,所述方法进一步包含:

控制获取热图像时所述电致变色装置的温度。

18.一种用于检测和修复电致变色装置中的缺陷的系统,所述系统包含:

热成像单元,用于获取所述装置处于运行状态时所述电致变色装置的热图像;

控制单元,用于处理所述热图像的热成像数据,从而检测所述电致变色装置上的缺陷,并且确定所述装置中与检测到的缺陷相对应的位置;

激光装置单元,用于发射激光,从而烧蚀所述装置中与检测到的缺陷相对应的位置;以及

冷却器单元,用于控制获取热图像时所述装置的温度;

其中所述控制单元将在所述热图像的像素检测到的热幅度与预定的值相比较,以确定该像素是否对应于所述装置中缺陷的位置。

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