[发明专利]观察研磨单元内部的质量变化的方法

权利要求书

1. 观察作为研磨过程的一部分的研磨单元内部的质量变化的方法，所述研磨过程具有将待研磨的输入材料进料到所述研磨单元的过程输入路径、用于储存来自所述研磨单元的经研磨材料的储存单元和用于从所述储存单元除去经研磨材料的过程输出路径，所述方法包含以下步骤：

a) 测定所述过程输入路径的质量流量(m₁)和所述过程输出路径的质量流量(m₅)；

b) 测定所述储存单元内部的经研磨材料的质量变化；和

c) 从所述储存单元内部测定的质量变化和测定的质量流量，并且基于预先建立的所述研磨单元的质量衡算和预先建立的所述储存单元的质量衡算，导出所述研磨单元内部的质量变化。

2. 权利要求1的方法，所述方法还包括以下步骤：

d) 相应于所述研磨单元内部观察到的质量变化，控制所述研磨过程。

3. 权利要求1或2的方法，所述方法包括以下步骤：

c') 从所述储存单元内部测定的质量变化和测定的质量流量，并且使用状态估测技术如Kalman过滤器或移动水平估测，基于预先建立的所述研磨单元的质量衡算和预先建立的所述储存单元的质量衡算，导出所述研磨单元内部的质量变化。

4. 权利要求1-3中的一项的方法，其中所述研磨过程包含封闭回路，所述封闭回路具有位于所述储存单元上游的分离粗材料和细材料的筛分单元和将粗材料从所述筛分单元返回至所述研磨单元的返回路径，所述方法包含以下步骤：

c'') 从所述储存单元内部测定的质量变化和测定的质量流量，并且基于预先建立的所述研磨单元的质量衡算、预先建立的所述储存单元的质量衡算、预先建立的所述筛分单元的质量衡算和预先建立的所述返回路径的质量衡算，导出所述研磨单元内部的质量变化。

5. 权利要求4的方法，所述方法还包括以下步骤：

e) 导出所述返回路径中的质量变化和使用该值来导出所述研磨单元内部的质量变化。

6. 用于观察研磨单元内部的质量变化的系统，所述研磨单元作为研磨过程的一部分，该研磨过程具有用于储存所述研磨单元的输出的储存单元，其特征在于：所述系统还包含用于测定进入所述研磨单元中的质量流量的测量装置、用于测定离开所述储存单元的质量流量的测量装置、用于测定所述储存单元内部的质量变化的测量装置和导出所述研磨单元内部的质量变化的处理单元。

7. 权利要求5的系统，其特征在于：所述用于测定储存单元内部的质量变化的测量装置使用光学或声学感应所述储存单元内部的物质表面。