[发明专利]Ⅲ族氮化物半导体发光元件有效
申请号: | 201280022650.5 | 申请日: | 2012-06-12 |
公开(公告)号: | CN103518266A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 宇田川隆 | 申请(专利权)人: | 丰田合成株式会社 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32;C30B29/38;H01L21/203;H01L21/205;H01L33/08 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 段承恩;杨光军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 发光 元件 | ||
1.一种Ⅲ族氮化物半导体发光元件,是pn结型的Ⅲ族氮化物半导体发光元件,其特征在于,具备:
第1半导体层、发光层和第2半导体层层叠而成的叠层半导体层,所述第1半导体层具有第1导电类型,所述第2半导体层具有显示与该第1导电类型相反的导电性的第2导电类型;
与所述第1半导体层连接的第1电极;和
设置在所述第2半导体层的表面的第2电极,
所述叠层半导体层的所述发光层具有包含下述层的结构单元:
第1氮化镓铟层,其被配置在与来自该发光层的发光的取出方向相反的一侧,具有第1铟组成;
第2氮化镓铟层,其被配置在相比于所述第1氮化镓铟层靠所述发光的取出方向的一侧,具有组成比所述第1铟组成小的第2铟组成;和
中间层,其被设置在所述第1氮化镓铟层和所述第2氮化镓铟层之间,包含晶格常数比构成该第1氮化镓铟层和该第2氮化镓铟层的材料小的材料。
2.根据权利要求1所述的Ⅲ族氮化物半导体发光元件,其特征在于,所述发光层中的包含具有所述第1铟组成之中最大的铟组成的所述第1氮化镓铟层的所述结构单元,朝向该发光层的所述发光的取出方向配置在最下层。
3.根据权利要求1或2所述的Ⅲ族氮化物半导体发光元件,其特征在于,所述发光层中的包含具有所述第2铟组成之中最小的铟组成的所述第2氮化镓铟层的所述结构单元,朝向该发光层的所述发光的取出方向配置在最上层。
4.根据权利要求1所述的Ⅲ族氮化物半导体发光元件,其特征在于,所述结构单元中的所述中间层,该中间层的厚度与构成该结构单元的所述第1氮化镓铟层的所述第1铟组成X1和所述第2氮化镓铟层的所述第2铟组成X2的浓度差ΔIn相应地增大。
5.根据权利要求1所述的Ⅲ族氮化物半导体发光元件,其特征在于,所述结构单元中的所述中间层,由Ⅲ族-Ⅴ族化合物半导体构成。
6.根据权利要求5所述的Ⅲ族氮化物半导体发光元件,其特征在于,所述Ⅲ族-Ⅴ族化合物半导体为氮化铝镓。
7.根据权利要求1所述的Ⅲ族氮化物半导体发光元件,其特征在于,所述结构单元中的所述中间层,含有包含原子半径比Ⅲ族元素或Ⅴ族元素小的元素的施主杂质。
8.根据权利要求7所述的Ⅲ族氮化物半导体发光元件,其特征在于,所述中间层,所述施主杂质的浓度与该中间层的厚度相应地增大。
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