[发明专利]用于口内X射线成像的装置

权利要求书

1.一种口内X射线成像装置，其包括作为分离的结构的：首先，具有准直器结构(4’，40)的辐射源(4)，该准直器结构(4’，40)限制X射线束以产生在成像中使用的射束并将该X射线束瞄准朝向被成像的对象；其次，布置成可定位在患者的口内的成像传感器(30)；以及控制该成像装置的控制系统，该控制系统与至少第一工具功能连接，该第一工具布置成向该控制系统发送包括有关该装置的至少一个部件的位置的信息的测量信号，

其特征在于，该装置包括信号产生工具，其包括i)测量工具(A，M，G)和ii)发送工具，所述测量工具至少包括三轴加速度传感器(A1，A2)，布置成与成像传感器(30)和辐射源(4)连接，用于测量成像传感器(30)和辐射源(4)的空间位置，所述发送工具发送基于所述空间位置测量的测量信号到该控制系统，并且该控制系统包括确定工具，基于所述测量信号确定有关成像传感器(30)与辐射源(4)或布置于辐射源(4)的部件(40，50)和成像传感器(30)的相互空间位置的信息。

2.依照权利要求1的成像装置，其特征在于，所述测量工具(A，M，G)进一步包括与成像传感器(30)连接的至少三轴磁性传感器(M1)。

3.依照权利要求1的成像装置，其特征在于，所述测量工具(A，M，G)进一步包括与辐射源(4)连接的至少三轴磁性传感器(M2)。

4.依照权利要求1的成像装置，其特征在于，用于测量关于成像传感器(30)和辐射源(4)的空间位置的信息的所述测量工具(A，M，G)进一步包括与成像传感器(30)连接的至少三轴磁性传感器(M1)和与辐射源(4)连接的至少三轴磁性传感器(M2)，其中所述发送工具进一步被配置为发选根据所述与成像传感器(30)连接的至少三轴磁性传感器(M1)和与辐射源(4)连接的至少三轴磁性传感器(M2)的空间位置测量的测量信号到控制系统，并且其中该控制系统设置有计算工具，根据从所述测量工具(A，M，G)获得的所述测量信号计算成像传感器(30)与辐射源(4)或与辐射源(4)相关联的部件(40，50)和成像传感器(30)的相互空间取向。

5.依照权利要求4的成像装置，其特征在于，

线圈(50)被布置成与所述准直器结构(40)连接，所述线圈(50)与电源(PW)功能连接，以及

控制系统包括通过所述线圈(50)可控地产生直流磁场的工具，

测量成像传感器(30)与辐射源(4)的空间位置的所述测量工具(A，M，G)包括布置成至少与成像传感器(30)连接的至少三轴磁性传感器(M1)，以及

所述计算工具被配置为根据从所述布置成至少与成像传感器(30)连接的至少三轴磁性传感器(M1)获得的测量信号计算以下至少一个，其中所述测量信号已被配置为在与所述电源(PW)功能连接的所述线圈(50)引起磁场的情形下以及在所述线圈(50)不引起磁场的情形下测量得到：

i)成像传感器(30)与辐射源(4)或布置于辐射源(4)的部件(40，50)和成像传感器(30)之间的距离；

ii)成像传感器(30)关于由辐射源(4)产生并被辐射源(4)的准直器结构(4’，40)限定的射束的中心轴定位的方向或距离，或者这两者；

iii)限定所述布置成至少与成像传感器(30)连接的至少三轴磁性传感器(M1)在由线圈(50)产生的磁场中的定位的方向矢量。