[发明专利]被检体信息获取装置及其控制方法和用于确定接触的方法有效
申请号: | 201280020916.2 | 申请日: | 2012-04-25 |
公开(公告)号: | CN103501691A | 公开(公告)日: | 2014-01-08 |
发明(设计)人: | 时田俊伸 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 罗银燕 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 被检体 信息 获取 装置 及其 控制 方法 用于 确定 接触 | ||
1.一种被检体信息获取装置,包括:
光声探测器单元,所述光声探测器单元包括光辐照单元和探测器,所述光辐照单元将来自光源的光引向被检体,所述探测器在将超声波发射到被检体并接收该超声波的反射波的同时接收从被光辐照单元用光辐照的被检体产生的光声波;
处理器,所述处理器被配置为基于探测器接收的光声波来创建关于被检体的内部部分的图像信息;以及
控制器,所述控制器被配置为控制来自光辐照单元的光的辐照,
其中,当第一接触状况被定义为在光声探测器单元以探测器与被检体声学匹配的方式与被检体接触的同时、被检体被来自光辐照单元的光辐照的状况时,控制器通过使用反射波来确定光声探测器单元是否处于第一接触状况,并且当光声探测器单元被确定为处于第一接触状况时,使得来自光辐照单元的光的辐照能够被执行。
2.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中,所述光辐照单元位于比探测器更向外之处,并且
所述探测器具有被定位为比光辐照单元更远离被检体的超声波发射和接收表面。
3.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中,所述探测器位于比光辐照单元更向外之处,并且
所述光辐照单元具有辐照端,所述辐照端被定位为相对于被检体与探测器的超声波发射和接收表面共面,或者被定位为比探测器的超声波发射和接收表面更远离被检体。
4.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中,所述探测器的超声波发射和接收表面设置有声学匹配剂,并且所述光辐照单元的辐照端与所述声学匹配剂接触。
5.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中,所述光声探测器单元还包括位于探测器和光辐照单元外部的遮光壁,并且探测器的超声波发射和接收表面以及光辐照单元的辐照端被定位为比遮光壁的一端更远离被检体。
6.根据权利要求1所述的被检体信息获取装置,其中,所述控制器基于反射波来确定探测器是否与被检体声学匹配,然后当探测器被确定为与被检体声学匹配时,确定光声探测器单元处于第一接触状况。
7.根据权利要求6所述的被检体信息获取装置,其中,当从与光声探测器单元与被检体之间的边界一致的位置获取的反射波大于从处于声学匹配的状态的被检体获取的信号时,控制器确定探测器不与被检体声学匹配。
8.根据权利要求6所述的被检体信息获取装置,其中,当从与被检体的内部部分一致的位置获取的反射波大于从探测器和处理器产生的噪声时,控制器确定探测器与被检体声学匹配。
9.根据权利要求6所述的被检体信息获取装置,其中,当从与被检体的内部部分一致的位置获取的反射波包含除了与从探测器和处理器产生的噪声相应的频率分量之外的频率分量时,控制器确定探测器与被检体声学匹配。
10.根据权利要求1至9中的任何一个所述的被检体信息获取装置,其中,所述控制器确定处于第一接触状况的光声探测器单元是否正在远离被检体的方向上移动,并且当光声探测器单元被确定为正在远离被检体的方向上移动时,停止来自光辐照单元的光的辐照。
11.根据权利要求10所述的被检体信息获取装置,其中,所述探测器重复地将超声波发射到被检体并且接收超声波的反射波,并且
所述控制器从反射波提取与被检体内部的组织相应的信号,并且然后,当之后的用于获取如此提取的信号的超声波发射和接收需要更长时间时,确定光声探测器单元正在远离被检体的方向上移动。
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