[发明专利]用于校准毫微微节点的发射功率的方法和装置有效
| 申请号: | 201280019081.9 | 申请日: | 2012-04-20 |
| 公开(公告)号: | CN103477687B | 公开(公告)日: | 2017-06-23 |
| 发明(设计)人: | V·昌德;S·纳加拉贾;F·梅什卡蒂;S·戈埃尔;周彦;M·亚武兹 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
| 主分类号: | H04W52/50 | 分类号: | H04W52/50;H04W52/24;H04W52/14;H04W52/22;H04W52/32;H04W52/28 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 张扬,王英 |
| 地址: | 美国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 校准 微微 节点 发射 功率 方法 装置 | ||
1.一种用于校准毫微微节点的发射功率的方法,包括:
检测由所述毫微微节点服务的多个用户设备(UE)中的至少一个UE从空闲通信模式到活动通信模式的转换;
响应于检测到转换,在持续时间内从基础发射功率起增大所述毫微微节点的发射功率,其中,所述持续时间与所述至少一个UE处于所述活动通信模式的时间相对应;
在所述持续时间期间,从所述至少一个UE接收一个或多个测量报告;以及
部分地基于所述一个或多个测量报告和所增大的发射功率来校准所述毫微微节点的所述基础发射功率,以防止所述至少一个UE在覆盖区域中的切换。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,增大所述发射功率包括将所述发射功率增大固定值。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,增大所述发射功率包括将所述发射功率增大基于所述一个或多个测量报告的至少一部分计算出的动态值。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述动态值是基于所述至少一个UE接收到的最强的宏节点的信号强度测量来计算出的。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述动态值还是基于发生切换到所述最强的宏节点时所述毫微微节点的路径损耗边缘测量来计算的。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,增大所述发射功率包括将所述发射功率增大基于一个或多个历史的测量报告计算出的动态值,所述一个或多个历史的测量报告是由所述至少一个UE在通信模式下在先前的转换中接收到的。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述动态值是基于所述一个或多个历史的测量报告中最强的宏节点的测量的百分比计算出的。
8.根据权利要求1所述的方法,还包括:
检测所述至少一个UE从所述活动通信模式到所述空闲通信模式的第二转换;
基于所述第二转换,将所述发射功率减小到所述基础发射功率。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述持续时间与所述一个或多个UE尝试向所述毫微微节点注册的最短时间相关。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,校准所述基础发射功率是部分地基于如在所述一个或多个测量报告中指示的、从所述一个或多个UE到所述毫微微节点和/或一个或多个宏节点的路径损耗的。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,校准所述基础发射功率部分地基于确保由所述毫微微节点引起的、对所述一个或多个UE中的至少一部分造成的干扰的电平小于阈值。
12.根据权利要求9所述的方法,其中,增大所述发射功率是周期性地执行的,直到所述一个或多个UE中的至少一个UE由所述毫微微节点来服务为止。
13.一种用于校准毫微微节点的发射功率的装置,包括:
至少一个处理器,所述至少一个处理器被配置为:
检测由所述毫微微节点服务的多个用户设备(UE)中的至少一个UE从空闲通信模式到活动通信模式的转换;
响应于检测到转换,在持续时间内从基础发射功率起增大所述毫微微节点的发射功率,其中,所述持续时间与所述至少一个UE处于所述活动通信模式的时间相对应;
在所述持续时间期间,从所述至少一个UE接收一个或多个测量报告;以及
部分地基于所述一个或多个测量报告和所增大的发射功率来校准所述毫微微节点的所述基础发射功率,以防止所述至少一个UE在覆盖区域中的切换;以及
存储器,所述存储器耦合到所述至少一个处理器。
14.根据权利要求13所述的装置,其中,所述至少一个处理器将所述发射功率增大固定值。
15.根据权利要求13所述的装置,其中,所述至少一个处理器将所述发射功率增大基于所述一个或多个测量报告的至少一部分计算出的动态值。
16.根据权利要求13所述的装置,其中,所述至少一个处理器将所述发射功率增大基于一个或多个历史的测量报告计算出的动态值,所述一个或多个历史的测量报告是由所述至少一个UE在通信模式下在先前的转换中接收到的。
17.根据权利要求13所述的装置,其中,所述持续时间与所述一个或多个UE尝试向所述毫微微节点注册的最短时间相关。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高通股份有限公司,未经高通股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201280019081.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





