[发明专利]用于设计有机光电检测器元件或光电发射器元件的阵列的改进方法

权利要求书

1.一种用于制造包括光电检测或光电发射元件的矩阵的矩阵器件的方法，所述方法包括：

a）用于使用数据处理装置从所述矩阵器件的至少一个给定拓扑识别一个或多个电气导通闭合电路的设计步骤，

b）用于使用数据处理装置选择至少一个所识别所述导通闭合电路所属的矩阵器件的一个或多个给定光电检测或光电发射元件的设计步骤，

所述矩阵的、在步骤b）中所选择的所述元件中的至少一个元件被去激活或者被识别为意图被去激活。

2.根据权利要求1所述的用于制造矩阵器件的方法，还包括用于产生所述矩阵器件的新的拓扑的步骤，其中，在步骤（b）中所选择的所述至少一个元件被去激活或者被识别为意图被去激活。

3.根据权利要求1或2所述的用于制造矩阵器件的方法，其中，所述步骤a）包括：

从所述给定拓扑，实现由与矩阵的所述元件对应的角点和与矩阵中的所述角点的连接对应的链路形成的至少一个图形，

在所述图形中识别一个或多个给定循环，

通过选择所述图形的至少一个所述循环所属的至少一个给定角点来执行步骤b）。

4.根据权利要求3所述的用于制造矩阵器件的方法，其中，所选择的所述给定角点为所述图形的两个循环共用的。

5.根据权利要求3或4所述的用于制造矩阵器件的方法，其中，所选择的所述给定角点属于长度比预先确定的长度更长的循环或者属于所述图形的最大循环。

6.根据权利要求1至5中的任意一个所述的用于制造矩阵器件的方法，还包括用于制造所述矩阵器件的步骤，其中，在步骤b）中所选择的所述至少一个元件为被去激活的。

7.根据权利要求1至6中的任意一个所述的用于制造矩阵器件的方法，其中，通过将所选择的所述一个或多个元件的电极中的至少一个电极从所述矩阵的剩余部分断开，将所选择的所述一个或多个元件去激活。

8.根据权利要求1至7中的任意一个所述的用于制造矩阵器件的方法，其中，所述矩阵的所述元件包括半导电的光电检测或光电发射区域，通过提供朝向所述半导电的区域的掩膜区域将所选择的所述元件去激活。

9.根据权利要求1至7中的任意一个所述的用于制造矩阵器件的方法，其中，被去激活或者意图被去激活的所述元件不具有光电检测或者光电发射半导电的区域或具有用于代替所述光电检测或光电发射区域的绝缘区域。

10.根据权利要求1至9中的任意一个所述的用于制造矩阵器件的方法，其中，所选择的所述元件具有被去激活的光电检测或光电发射半导电的区域。

11.根据权利要求1至10中的任意一个所述的用于制造矩阵器件的方法，其中，所述矩阵的所述元件为有机半导体二极管。

12.一种计算机程序，包括可记录到所述计算机上以执行根据权利要求1至5中的任意一个所述的方法的步骤的程序代码指令。

13.一种包括记录在可用于计算机中的介质上的程序代码指令的计算机程序产品，包括用于实现根据权利要求1至5中的任意一个所述方法的可读编程装置。

14.一种可由计算机使用的数字数据介质，包括根据权利要求12或权利要求13所述的计算机程序的代码指令。