[发明专利]通过光纤光学耦合器组合两种不同波长的激光跟踪仪无效

专利信息
申请号: 201280018614.1 申请日: 2012-03-28
公开(公告)号: CN103765238A 公开(公告)日: 2014-04-30
发明(设计)人: 罗伯特·E·布里奇斯;雅各布·J·梅茨 申请(专利权)人: 法罗技术股份有限公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王萍;韩炜
地址: 美国佛*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 通过 光纤 光学 耦合器 组合 不同 波长 激光 跟踪
【权利要求书】:

1.一种坐标测量装置,被配置为将第一光束的光线发送到远程回射器目标,所述回射器目标具有空间中的位置,所述回射器目标返回一部分所述第一光束作为第二光束,所述测量装置包括:

第一光源,被配置为发射具有第一波长的第一光线;

第二光源,被配置为发射具有第二波长的第二光线,所述第二波长与所述第一波长不同;

光纤光学耦合器,包括至少第一端口、第二端口和第三端口,所述第一端口被配置为接受所述第一光线的第一部分,所述第二端口被配置为接受所述第二光线的第二部分,所述第三端口被配置为传输第三光线,所述第三光线包括所述第一部分的一部分以及所述第二部分的一部分;

光学系统,被配置为将一部分所述第三光线传输离开所述坐标测量装置,作为所述第一光束;

第一电机和第二电机,所述第一电机和所述第二电机一起被配置为将所述第一光束的光线引导到第一方向,所述第一方向由关于第一轴的第一旋转角度以及关于第二轴的第二旋转角度确定,所述第一旋转角度由所述第一电机产生,所述第二旋转角度由所述第二电机产生;

第一角度测量装置,被配置为测量所述第一旋转角度,以及第二角度测量装置,被配置为测量所述第二旋转角度;

距离计量仪,被配置为至少部分地基于通过第一光学检测器接收的所述第二光束的第三部分,测量从所述坐标测量装置到所述回射器目标的第一距离;以及

处理器,被配置为提供所述回射器目标的三维坐标,所述三维坐标至少部分地基于所述第一距离、所述第一旋转角度和所述第二旋转角度。

2.根据权利要求1所述的坐标测量装置,还包括:

位置检测器组件,包括位置检测器,所述第二光束的第四部分传递到所述位置检测器上,所述位置检测器被配置为响应于所述位置检测器上所述第四部分的位置,产生第一信号;以及

控制系统,被配置为将第二信号发送到所述第一电机以及将第三信号发送到所述第二电机,所述第二信号和所述第三信号至少部分地基于所述第一信号,所述控制系统被配置为将所述第一光束的所述第一方向调节到所述回射器目标的所述空间中的位置。

3.根据权利要求1所述的坐标测量装置,其中所述距离计量仪是绝对距离计量仪。

4.根据权利要求1所述的坐标测量装置,其中所述光学系统还被配置为将所述第二光束的所述第三部分耦合到所述光纤光学耦合器的所述第三端口。

5.根据权利要求1所述的坐标测量装置,其中所述光纤光学耦合器还包括第四端口。

6.根据权利要求5所述的坐标测量装置,其中所述第四端口附接于低反射终端。

7.根据权利要求1所述的坐标测量装置,其中所述第一波长在780nm与850nm之间。

8.根据权利要求1所述的坐标测量装置,其中所述第二波长是红光波长或绿光波长。

9.根据权利要求1所述的坐标测量装置,其中所述第一波长是红外光波长并且所述第二波长是可见光波长。

10.根据权利要求1所述的坐标测量装置,其中所述第一波长是可见光波长并且所述第二波长是红外光波长。

11.根据权利要求1所述的坐标测量装置,其中所述第一波长是可见光波长并且所述第二波长是可见光波长。

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