[发明专利]用于荧光和吸收率分析的系统和方法

权利要求书

1.一种用于分析样品的系统，包括：

一个输入光源；

一个双减色单色仪，该双减色单色仪被定位成用于从该输入光源接收光并循序地用多个波长中的每一个波长照亮该样品；

一个多通道荧光检测器，该多通道荧光检测器被定位成用于接收并检测该样品对该多个激发波长中的每一个激发波长发射的多个光波长；

一个吸收检测器，该吸收检测器被定位成用于接收并检测穿过该样品的光；以及

一个与该单色仪、该荧光检测器及该吸收检测器通信的计算机，该计算机控制该单色仪用该多个波长中的每一个波长循序地照亮该样品，同时基于从该荧光和吸收检测器接收到的多个信号测量该样品的吸收和荧光。

2.如权利要求1所述的系统，其中，该计算机使用多个同时获得的吸收测量值校正多个荧光测量值。

3.如权利要求1所述的系统，其中，该吸收检测器包括至少一个光电二极管。

4.如权利要求1所述的系统，进一步包括至少一个光学元件，该至少一个光学元件被定位成用于将光从该单色仪引导到该样品，并提供从该样品到该吸收检测器的一个基本准直的光束，同时向该荧光检测器提供高通量。

5.如权利要求4所述的系统，其中，该至少一个光学元件包括一个凹面镜，该凹面镜具有的关联F/数比与该吸收检测器相关联的光学器件更快，其中，与该吸收检测器相关联的该光学器件包括一个具有一个孔径的遮光板，该遮光板定位于该吸收检测器前面。

6.如权利要求1所述的系统，其中，该计算机控制该单色仪从波长较长的光开始到波长较短的光循序地照亮该样品。

7.如权利要求1所述的系统，进一步包括：

一个分束器；以及

一个与该计算机通信的参考检测器，该分束器被定位成用于将一部分光从该单色仪引导到该参考检测器，其中，该计算机基于来自该参考检测器的一个信号调整这些吸收和荧光测量值中的至少一个。

8.如权利要求1所述的系统，其中，该荧光检测器包括一个像差校正光栅，该像差校正光栅被定位成用于将输入光衍射到与该计算机通信的一个冷却的CCD阵列上。

9.如权利要求1所述的系统，进一步包括：

至少一个光学元件，该至少一个光学元件被定位于该单色仪与该样品之间以将一个第一部分的光从该单色仪引导到该样品并将一个第二部分的光从该单色仪引导到一个空位。

10.如权利要求9所述的系统，其中，透射过该空位的光被选择性地引导到该吸收检测器。

11.如权利要求9所述的系统，进一步包括一个第二吸收检测器，该第二吸收检测器被定位成用于检测透射过该空位的光。

12.如权利要求9所述的系统，其中，该至少一个光学元件包括一个可移除分束器。

13.如权利要求1所述的系统，其中该吸收检测器包括：

一个衍射光栅；以及

一个多通道检测器，该多通道检测器被定位成用于检测该衍射光栅衍射的光。

14.一种用于分析样品的方法，该方法包括：

以来自一个双减色单色仪的多个激发波长照亮该样品；

通过检测穿过该样品的光测量该样品的吸收率；

使用一个多通道检测器通过检测该样品对各激发波长发射的光的一个发射光谱来测量该样品的荧光。

15.如权利要求14所述的方法，进一步包括：

使用该吸收率测量值校正该荧光测量值。

16.如权利要求14所述的方法，其中，基于一个参考检测器检测到的光强度调整该吸收率测量值，该参考检测器被定位成用于从该单色仪接收一部分光。