[发明专利]天线故障的检测方法与装置有效
申请号: | 201280016805.4 | 申请日: | 2012-08-13 |
公开(公告)号: | CN103596637A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 岳建军 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | A99Z99/00 | 分类号: | A99Z99/00 |
代理公司: | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人: | 陈霁 |
地址: | 518129 中国*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 天线 故障 检测 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及通讯技术领域,尤其涉及一种天线故障的检测方法与装置。
背景技术
随着移动通信的迅速发展,有源天线系统(Act ive Antenna Sys tem,AAS)日益广泛应用于通讯、卫星导航和航天测控等领域。
有源天线系统采用射频多通道的技术对天线的垂直方向的子阵列和水平方向的子阵列进行控制,灵活的控制天线在垂直和水平方向的波束,从而达到改善无线信号的覆盖质量提升网络容量的目的。
目前,现有技术检测有源天线故障的方案中,采用增加驻波检测电路进行天线故障检测。驻波检测方式采用在用户使用终端拨打电话,终端发射射频信号时,检测发射射频信号的功率和经天线反射后的反射信号的功率,利用发射射频信号的功率和经天线反射后的反射信号的功率计算电压驻波比(Voltage Standing Wave Rat io,VSWR)。
如图1所示,采用双工器对射频信号功率进行采样,前向耦合器对射频信号功率进行功率检测和耦合处理,反向耦合器接收部分经前向耦合器输出的信号和经天线反射后的反射信号,并对前向耦合器输出的信号和经天线反射后的反射信号进行功率检测和耦合处理,然后经模数转换器将模拟信号转变为数字信号,再经信号处理器处理,获取天线故障位置,进而得到电压驻波比。但是,现有检测天线故障的方案中的射频信号依赖于用户拨打电话,在用户不拨打电话时,则无法产生射频信号,也无法获取天线故障信息,对于获取天线故障信息和计算电压驻波比带来不便。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中依赖于用户拨打电话时产生射频信号后获取天线故障信息的问题,提供了一种天线故障的检测方法与装置。
在第一方面,本发明实施例提供了一种天线故障的检测装置,所述装置包括:
扫频源,用于产生第一扫频信号和第二扫频信号;
第一定向耦合器,用于将所述扫频源产生的第二扫频信号生成第一耦合信号;
第二定向耦合器,用于将所述第一定向耦合器生成的第一耦合信号进行耦合处理,生成第二耦合信号,将所述第二耦合信号通过天线发射,并对所述天线接收的所述第二耦合信号的天线反射信号进行耦合处理,生成天线耦合反射信号,所述天线反射信号携带天线最大故障位置的信息;
射频放大器,用于将所述天线耦合反射信号经放大处理后,生成第一反射信号;
延时器,用于将所述射频放大器生成的第一反射信号进行延时处理,生成延时第一反射信号;
混频器,用于将所述扫频器产生的第一扫频信号和所述延时器生成的延时第一反射信号进行混频处理,生成混频信号;
信号处理器,用于对所述混频器生成的混频信号进行处理,获得所述天线的故障信息。
在第二方面,本发明实施例提供了一种天线故障的检测方法,所述方法包括:
产生第一扫频信号和第二扫频信号;
将所述第二扫频信号耦合后生成第一耦合信号;
将所述第一耦合信号进行耦合处理,生成第二耦合信号,将所述第二耦合信号通过天线发射,并通过所述天线接收所述第二耦合信号的天线反射信号,所述天线反射信号中携带天线最大故障位置的信息;
对所述天线反射信号耦合后,生成天线耦合反射信号;
对所述天线耦合反射信号进行放大处理,生成第一反射信号;
对所述第一反射信号进行延时处理,生成延时第一反射信号;
将所述第一扫频信号和所述延时第一反射信号进行混频处理,生成混频信号;
对所述混频信号进行处理,获得所述天线的故障信息。
通过应用本发明实施例提供的天线故障的检测方法与装置,利用扫频源产生第一扫频信号和第二扫描信号,将第二扫频信号经过第一耦合器、第二定向耦合器后通过天线发射,并通过天线接收反射信号,将第一扫频信号和反射信号进行混频处理生成混频信号,从混频信号中获取天线的故障信息,从而解决现有技术中依赖于用户拨打电话时产生射频信号后获取天线故障信息的问题。
附图说明
图1为现有技术中天线故障的检测装置图;
图2为本发明实施例提供的天线故障的检测装置图;
图3为本发明实施例提供的天线故障的检测信号流程图;
图4为本发明实施例提供的天线故障的检测方法流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面结合附图对本发明具体实施例作进一步的详细描述。
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