[发明专利]利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序有效

专利信息
申请号: 201280016619.0 申请日: 2012-03-26
公开(公告)号: CN103460026A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 叶梨拓哉;山口光城;田边哲也 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 利用 单个 发光 粒子 检测 分析 装置 方法 以及 用计 程序
【权利要求书】:

1.一种使用共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统来检测来自在样本溶液中分散且随机运动的发光粒子的光的光分析装置,该光分析装置的特征在于,包括:

光检测区域移动部,其通过变更上述光学系统的光路来使上述光学系统的光检测区域的位置在上述样本溶液内移动;

光检测部,其检测来自上述光检测区域的光;以及

信号处理部,其生成一边使上述光检测区域的位置在上述样本溶液内移动一边由上述光检测部检测出的来自上述光检测区域的光的按时间序列的光强度数据,在上述按时间序列的光强度数据中个别地检测来自各个上述发光粒子的信号,

其中,上述信号处理部从在上述按时间序列的光强度数据中检测出的信号的群中抽出光强度处于根据信号发生频率累加值分布而设定的光强度范围内的信号作为上述发光粒子的信号,由此检测来自各个上述发光粒子的信号,该信号发生频率累加值分布是以在上述按时间序列的光强度数据中检测出的信号的强度为变量而强度为该变量以上的上述信号的发生频率的累加值的分布。

2.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

上述信号处理部抽出强度超过根据上述信号发生频率累加值分布而决定的阈值的、上述按时间序列的光强度数据上的信号作为上述发光粒子的信号。

3..据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

根据上述信号发生频率累加值分布而设定的光强度范围是根据上述信号发生频率累加值分布而决定的针对上述光检测区域内的位置的信号的强度分布与从上述光检测区域内的发光粒子释放并被检测到的光的强度分布实质一致的光强度范围。

4.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

上述信号处理部能够根据上述信号发生频率累加值分布来决定上述按时间序列的光强度数据中的噪声强度的上限。

5.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

上述信号处理部具有显示部,该显示部能够显示根据上述信号发生频率累加值分布而决定的、针对上述光检测区域内的位置的函数值的上述信号的强度的分布和/或上述信号发生频率累加值分布。

6.根据权利要求5所述的光分析装置,其特征在于,

上述光分析装置的使用者能够在上述显示部中显示的、针对上述光检测区域内的位置的函数值的上述信号的强度的分布或上述信号发生频率累加值分布上,设定应该作为上述发光粒子的信号抽出的上述按时间序列的光强度数据上的信号的上述光强度范围。

7.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

能够根据使吊钟型函数与基于上述信号发生频率累加值分布而决定的、针对上述光检测区域内的位置的函数值的上述信号的强度的分布拟合时的拟合误差,来设定应该作为上述发光粒子的信号抽出的上述按时间序列的光强度数据上的信号的上述光强度范围。

8.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

能够根据基于上述信号发生频率累加值分布而决定的、针对上述光检测区域内的位置的函数值的上述信号的强度的分布的形状或根据上述信号发生频率累加值分布的形状,来设定应该作为上述发光粒子的信号抽出的上述按时间序列的光强度数据上的信号的上述光强度范围。

9.根据权利要求1所述的光分析装置,其特征在于,

能够根据基于上述信号发生频率累加值分布而决定的、针对上述光检测区域内的位置的函数值的上述信号的强度的分布中的针对上述位置的函数值的上述信号的强度的斜率,来设定应该作为上述发光粒子的信号抽出的上述按时间序列的光强度数据上的信号的上述光强度范围。

10.根据权利要求1~9中的任一项所述的光分析装置,其特征在于,

上述光检测区域移动部使上述光检测区域的位置以比上述发光粒子的扩散移动速度快的速度移动。

11.根据权利要求1~10中的任一项所述的光分析装置,其特征在于,

上述信号处理部根据检测出的上述发光粒子的个数来决定上述样本溶液中的发光粒子的数密度或浓度。

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