[发明专利]辐照设备和控制其的控制方法

权利要求书

1.辐照设备，包括：

－具有粒子加速器（15、16）的加速器装置（13、15、16），借助粒子加速器能加速粒子并且借助该粒子加速器能产生粒子束（12），该粒子束（12）具有射束强度（I），

－至少一个用于测量粒子束（12）的射束质量的射束监控装置（32），该射束监控装置（32）具有多个可设置的测量范围（43、43'、45、45'），

－用于控制加速器装置（13、15、16）和射束监控装置（32）的控制装置（38），

其中，射束监控装置（32）的所述测量范围（43、43'、45、45'）能够根据粒子束（12）的射束强度（I）和/或待施加的粒子数来设置并且在辐照期间进行改变。

2.根据权利要求1的辐照设备，其中，所述控制装置（38）构造用于以扫描方法辐照靶区（14），并且能够根据每靶点（41）待施加的粒子数设置所述测量范围（43、43'、45、45'）。

3.根据权利要求1或2的辐照设备，其中，所述控制装置（38）构造用于在等能量层（18、20、22、24、26、28）中逐层辐照靶区（14），并且所述测量范围（43、43'、45、45'）能够在一个等能量层（18、20、22、24、26、28）内进行改变。

4.根据权利要求1至3之一的辐照设备，其中，所述控制装置（38）构造用于以再扫描方法进行辐照，在该再扫描方法中在多个依次的再扫描遍历中辐照靶区（14）的一区域，所述测量范围（43、43'、45、45'）能够在一个再扫描遍历内进行改变。

5.根据权利要求1至4之一的辐照设备，其中，所述控制装置（38）构造用于在辐照期间改变射束强度（I）并且在该辐照期间当射束强度（I）改变即射束强度（I）从第一测量范围（43、43'）离开和/或进入第二测量范围（45、45'）中时将射束监控装置（32）从第一测量范围（43、43'）切换到第二测量范围（45、45'）中。

6.根据权利要求1至5之一的辐照设备，其中，所述控制装置（38）构造用于在切换测量范围（43、43'、45、45'）时进行辐照中断（53）。

7.根据权利要求1至6之一的辐照设备，其中，所述控制装置（38）构造用于在粒子束（12）接通时切换所述测量范围（43、43'、45、45'）。

8.根据权利要求1至7之一的辐照设备，其中，所述射束监控装置（32）具有至少两个用于测量同一射束质量的测量装置（34、36），至少能够暂时设置配置给测量装置（34、36）的所述测量范围（43、43'、45、45'），使得所述测量装置（34、36）在不同的测量范围（43、43'、45、45'）中工作。

9.根据权利要求7的辐照设备，其中，所述测量装置（34、36）中的一个测量装置能够作为主测量装置工作而所述测量装置（34、36）中的另一测量装置能够作为冗余测量装置工作，并且射束监控装置（32）的所述测量范围（43、43'、45、45'）的转换通过转换作为主测量装置工作的测量装置（34、36）来实现。

10.根据权利要求7或8的辐照设备，其中，在切换射束监控装置（32）的所述测量范围（43、43'、45、45'）时，配置给测量装置（34、36）的测量范围（43、43'、45、45'）的切换在时间上错开进行。

11.用于控制辐照设备（10）的控制方法，包括下述步骤：

－产生粒子束（12），该粒子束（12）具有射束强度（I），

－借助射束监控装置（32）监控粒子束（12）的射束质量，其中从多个可设置的测量范围（43、43'、45、45'）中选择一个测量范围，

其中，根据粒子束（12）的射束强度（I）和/或根据待施加的粒子数设置射束监控装置（32）的所述测量范围（43、43'、45、45'）。

12.根据权利要求11的控制方法，其中，在以光栅扫描方法辐照靶区（14）时实施该控制方法，并且根据每靶点（41）待施加的粒子数设置所述测量范围（43、43'、45、45'）。