[发明专利]电磁断开/闭合设备无效
申请号: | 201280013780.2 | 申请日: | 2012-03-07 |
公开(公告)号: | CN103443895A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 小玉和广 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01H47/00 | 分类号: | H01H47/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 潘剑颖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁 断开 闭合 设备 | ||
1.一种电磁断开/闭合设备,包括:
触点部分,具有固定触点和与所述固定触点接触/分离的可动触点;
移位装置,被配置为通过使所述可动触点移位来使所述可动触点与所述固定触点接触/分离;
检测装置,被配置为检测所述触点部分处的接触电阻;
确定装置,被配置为将所述检测装置检测到的与所述接触电阻有关的值与预定阈值进行比较,并且当与所述接触电阻有关的所述值超过所述预定阈值时,确定存在故障;以及
输出装置,被配置为输出所述确定装置的确定结果。
2.根据权利要求1所述的电磁断开/闭合设备,
其中,所述触点部分包括插入至电路中的两个固定触点作为所述固定触点,以及
其中,所述检测装置包括:
电压检测部分,检测所述两个固定触点之间的电位差;以及
电流检测部分,检测流过所述电路的电流,
所述检测装置被配置为基于所述电压检测部分检测到的所述两个固定触点之间的所述电位差和所述电流检测部分检测到的所述电流的值来计算接触电阻值作为与所述接触电阻有关的所述值。
3.根据权利要求1所述的电磁断开/闭合设备,还包括:存储装置,存储所述检测装置检测到的与所述接触电阻有关的所述值,
其中,所述确定装置被配置为基于存储在所述存储装置中的与所述接触电阻有关的值的历史来确定所述触点部分的故障。
4.根据权利要求3所述的电磁断开/闭合设备,
其中,所述确定装置被配置为基于存储在所述存储装置中的与所述接触电阻有关的所述值的平均值的历史来确定所述触点部分的所述故障。
5.根据权利要求3所述的电磁断开/闭合设备,
其中,所述预定阈值被设置为划分成两种类型:用于确定所述触点部分的所述故障的异常值和小于所述异常值的警报值,以及
其中,甚至当在所述历史中与所述接触电阻有关的所述值连续超过所述警报值规定的次数或者更多次时,所述确定装置被配置为确定所述触点部分的所述故障。
6.一种电磁断开/闭合设备,包括:
触点部分,具有固定触点和与所述固定触点接触/分离的可动触点;
移位装置,被配置为通过使所述可动触点移位来使所述可动触点与所述固定触点接触/分离;
检测装置,被配置为检测所述触点部分处的接触电阻;
存储装置,存储所述检测装置检测到的与所述接触电阻有关的值;
确定装置,被配置为基于存储在所述存储装置中的与所述接触电阻有关的值的历史来确定所述触点部分的故障;以及
输出装置,被配置为输出所述确定装置的确定结果。
7.根据权利要求6所述的电磁断开/闭合设备,
其中,所述确定装置被配置为基于存储在所述存储装置中的与所述接触电阻有关的所述值的平均值的历史来确定所述触点部分的所述故障。
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