[发明专利]光刻用清洗液以及使用了其的图案形成方法有效
| 申请号: | 201280013435.9 | 申请日: | 2012-03-22 |
| 公开(公告)号: | CN103443710A | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
| 发明(设计)人: | 王晓伟;G·鲍洛斯基;松浦裕里子 | 申请(专利权)人: | AZ电子材料IP(日本)株式会社 |
| 主分类号: | G03F7/32 | 分类号: | G03F7/32;H01L21/027 |
| 代理公司: | 北京三幸商标专利事务所 11216 | 代理人: | 刘激扬 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光刻 清洗 以及 使用 图案 形成 方法 | ||
1.一种光刻用清洗液,其特征在于,其至少包含磺酸、具有亚烷基氧基的非离子性表面活性剂以及水。
2.根据权利要求1所述的光刻用清洗液,其中,所述磺酸为由下述通式(I)表示的磺酸,
R-SO3H (I)
式中,R为碳原子数1~30的烃基,烃基可以为链状、环状中的任一个,也可具有支链,也可包含双键或者三键,另外烃基中所含的一部分或者全部氢也可由卤素原子、羟基、磺酸基、羧基等取代。
3.根据权利要求2所述的光刻用清洗液,其中,所述磺酸为由下述通式(Ia)表示的磺酸,
CnH2n+1-xFxSO3H (Ia)
式中,n为1~30,0≤x≤2n+1。
4.根据权利要求2所述的光刻用清洗液,其中,所述磺酸为由下述通式(Ib)表示的磺酸,
(R1)y-Ph-SO3H (Ib)
式中,Ph为亚苯基,R1为氢、所述烃基,烃基可以为链状、环状中的任一个,也可具有支链,也可包含双键或者三键,另外烃基中所含的氢的一部分或者全部也可由卤素原子、羟基、磺酸基、羧基等取代,0≤y≤5,y为2以上的情况下,各个R1可以相同也可不同,式中所含的碳原子的总数为30以下。
5.根据权利要求2所述的光刻用清洗液,其中,所述磺酸为由下述通式(Ic)表示的磺酸,
[化学式1]
式中,R2为氢、烃基,所述烃基可以为链状、环状中的任一个,也可具有支链,也可包含双键或者三键,另外烃基中所含的一部分或者全部氢也可由卤素原子、羟基、磺酸基、羧基等取代,另外R2也可以为介由双键而键合于构成环的碳上的氧,0≤z≤5,z为2以上的情况下,各个R2可以相同也可不同,式中所含的碳原子的总数为30以下。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的光刻用清洗液,其中,磺酸的含有率以光刻用清洗液的总重量为基准是0.005~10%。
7.根据权利要求1~6中任一项所述的光刻用清洗液,其中,所述表面活性剂由下述通式(IIa)或者(IIb)表示,
[化学式2]
式中,EO表示-(CH2)2-O-,PO表示-CH2-CH(CH3)-O-,EO以及PO的单元分别可以无规地结合,也可形成嵌段,
L为碳原子数1~30的烃链,也可包含不饱和键,
Rb为碳原子数5~30的饱和或者不饱和的烃链,
r1~r3以及s1~s3是表示EO或者PO的重复数的20以下的整数,r1+s1、以及r2+s2各自独立地为0~20的整数,其中,r1+s1+r2+s2为1以上的整数,
r3+s3为1~20的整数。
8.根据权利要求1~7中任一项所述的光刻用清洗液,其中,所述表面活性剂的含有率以光刻用清洗液的总重量为基准是0.005~10%。
9.一种图案形成方法,其特征在于,其包含如下工序:
(1)在基板上涂布感光性树脂组合物而形成感光性树脂组合物层,
(2)将所述感光性树脂组合物层进行曝光,
(3)利用显影液将曝光完成的基板显影,
(4)用权利要求1~8中任一项所述的光刻用清洗液进行处理。
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