[发明专利]光刻用清洗液以及使用了其的图案形成方法有效

专利信息
申请号: 201280013435.9 申请日: 2012-03-22
公开(公告)号: CN103443710A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 王晓伟;G·鲍洛斯基;松浦裕里子 申请(专利权)人: AZ电子材料IP(日本)株式会社
主分类号: G03F7/32 分类号: G03F7/32;H01L21/027
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光刻 清洗 以及 使用 图案 形成 方法
【权利要求书】:

1.一种光刻用清洗液,其特征在于,其至少包含磺酸、具有亚烷基氧基的非离子性表面活性剂以及水。

2.根据权利要求1所述的光刻用清洗液,其中,所述磺酸为由下述通式(I)表示的磺酸,

R-SO3H  (I)

式中,R为碳原子数1~30的烃基,烃基可以为链状、环状中的任一个,也可具有支链,也可包含双键或者三键,另外烃基中所含的一部分或者全部氢也可由卤素原子、羟基、磺酸基、羧基等取代。

3.根据权利要求2所述的光刻用清洗液,其中,所述磺酸为由下述通式(Ia)表示的磺酸,

CnH2n+1-xFxSO3H  (Ia)

式中,n为1~30,0≤x≤2n+1。

4.根据权利要求2所述的光刻用清洗液,其中,所述磺酸为由下述通式(Ib)表示的磺酸,

(R1)y-Ph-SO3H  (Ib)

式中,Ph为亚苯基,R1为氢、所述烃基,烃基可以为链状、环状中的任一个,也可具有支链,也可包含双键或者三键,另外烃基中所含的氢的一部分或者全部也可由卤素原子、羟基、磺酸基、羧基等取代,0≤y≤5,y为2以上的情况下,各个R1可以相同也可不同,式中所含的碳原子的总数为30以下。

5.根据权利要求2所述的光刻用清洗液,其中,所述磺酸为由下述通式(Ic)表示的磺酸,

[化学式1]

式中,R2为氢、烃基,所述烃基可以为链状、环状中的任一个,也可具有支链,也可包含双键或者三键,另外烃基中所含的一部分或者全部氢也可由卤素原子、羟基、磺酸基、羧基等取代,另外R2也可以为介由双键而键合于构成环的碳上的氧,0≤z≤5,z为2以上的情况下,各个R2可以相同也可不同,式中所含的碳原子的总数为30以下。

6.根据权利要求1~5中任一项所述的光刻用清洗液,其中,磺酸的含有率以光刻用清洗液的总重量为基准是0.005~10%。

7.根据权利要求1~6中任一项所述的光刻用清洗液,其中,所述表面活性剂由下述通式(IIa)或者(IIb)表示,

[化学式2]

式中,EO表示-(CH2)2-O-,PO表示-CH2-CH(CH3)-O-,EO以及PO的单元分别可以无规地结合,也可形成嵌段,

L为碳原子数1~30的烃链,也可包含不饱和键,

Rb为碳原子数5~30的饱和或者不饱和的烃链,

r1~r3以及s1~s3是表示EO或者PO的重复数的20以下的整数,r1+s1、以及r2+s2各自独立地为0~20的整数,其中,r1+s1+r2+s2为1以上的整数,

r3+s3为1~20的整数。

8.根据权利要求1~7中任一项所述的光刻用清洗液,其中,所述表面活性剂的含有率以光刻用清洗液的总重量为基准是0.005~10%。

9.一种图案形成方法,其特征在于,其包含如下工序:

(1)在基板上涂布感光性树脂组合物而形成感光性树脂组合物层,

(2)将所述感光性树脂组合物层进行曝光,

(3)利用显影液将曝光完成的基板显影,

(4)用权利要求1~8中任一项所述的光刻用清洗液进行处理。

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