[发明专利]具有增强可靠性的电子元件矩阵和用于定位矩阵中故障的方法

权利要求书

1.一种电子成像设备，包括若干像素，每个所述像素均包括具有电子元件的第一块(A(i，j))，所述第一块组织为矩阵并由链路连结到所述矩阵的行总线(L_ix，Vdd)和列总线(C_jx，Vss)，以允许针对每个所述第一块(A(i，j))的包括捕获阶段、读出阶段和复位到零阶段的名义操作，对每个所述第一块(A(i，j))进行通电和控制，其特征在于，每个所述像素还包括与所述第一块(A(i，j))相关联的可编程模块，用于使所述第一块(A(i，j))从所述行总线(L_ix，Vdd)和所述列总线(C_jx，Vss)中的至少一条断开连接，并且其特征在于，用于断开连接的每个所述可编程模块包括具有可编程电子元件的第二块(M(i，j))以及至少一个开关，所述至少一个开关(Mix)由所述第二块(M(i，j))引导并且使得将与所述第二块(M(i，j))相关联的第一块(A(i，j))与所述行总线(L_ix，Vdd)和所述列总线(C_jx，Vss)中的所述至少一条总线隔离成为可能，并且其特征在于，所述第二块(M(i，j))旨在在所述名义操作以外进行编程以在所述设备的存储器中保留隔离与所述第二块(M(i，j))相关联的所述第一块(A(i，j))的顺序。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，包括旨在在所述矩阵中对用于断开连接的所述可编程模块寻址的至少一条总线(L_i1，C_j1)，以及旨在对用于断开连接的所述可编程模块编程的一条总线(E_i)。

3.根据权利要求1和2中的任一项所述的设备，其特征在于，所述第一块(A(i，j))由正电源电压(Vdd)和负电源电压(Vss)供电，所述电源电压(Vdd，Vss)是所有所述第一块(A(i，j))共用的，并且其特征在于，所述可编程模块(M(i，j))仅允许所述正电源电压(Vdd)的断开连接。

4.根据权利要求1和2中的任一项所述的设备，其特征在于，对于打算用于所考虑的所述第一块(A(i，j))的操作的所有总线，所述可编程模块(M(i，j))允许这些总线的断开连接。

5.根据权利要求1和2中的任一项所述的设备，其特征在于，还包括与每个第一块(A(i，j))相关联的可编程模块(MJ1，MJ2，MJ3，MJ4，MJ5，MJ7)，用于将断开连接的链路重新连接到固定电压。

6.一种用于在根据权利要求1-5中的任一项所述的设备中定位故障的方法，所述故障出现在一个所述第一块(A(i，j))中，并且导致若干第一块(A(i，j))中的普遍故障，所述方法的特征在于包括：

·步骤(1)：使受所述普遍故障影响的所有第一块(A(i，j))断开连接，

·步骤(2)：重新连接这些断开连接的第一块(A(i，j))，直至所述普遍故障出现，

·步骤(3)：在一旦重新连接即使得所述普遍故障出现的块中识别出受所述普遍故障影响的所述第一块(A(i，j))。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于所述步骤(2)包括：

·步骤(4)：逐一重新连接这些断开连接的第一块(A(i，j))，直至所述普遍故障出现，并且在于

·步骤(5)：将受所述普遍故障影响的所述第一块(A(i，j))识别为使得所述普遍故障出现的最后重新连接的块。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于包括：

·步骤(6)：通过子集重新连接这些断开连接的块，所述子集的基数是包含这些断开连接的第一块(A(i,j))的集合的基数的一半，

·步骤(7)：识别出使得所述普遍故障出现的所述子集，

·步骤(8)：重复所述方法的步骤(1)，使识别出的子集的所有第一块断开连接，

·步骤(9)：再次通过子集重复所述方法的步骤(6)和(7)，减小所述子集的基数，直至识别出受所述普遍故障影响的所述第一块(A(i，j))。