[发明专利]测量自动生产线中透明物体厚度的方法和设备

权利要求书

1.一种用于测量透明物体（30），特别是弯曲物体，的壁（35）的厚度的方法，所述壁（35）包括：透明材料（35a）；布置在外部环境（（33）和所述透明材料（35a）之间的近端界面（31）；以及与所述近端界面（31）相对的、布置在所述透明材料（35a）和所述环境（33）之间的远端界面（32），

所述方法提供以下步骤：

——预先布置起始光辐射（2）；

——聚焦（10、11、22、23）所述起始光辐射（2），从而获得指向所述壁（35）的入射光辐射（5），使得所述入射光辐射（5）：

——撞击所述壁（35）的所述近端界面（31），

——部分由所述近端界面（31）反射，以便产生第一反射辐射（6），

——部分穿过所述透明材料（35a），撞击在所述远端界面（32）上，并且部分从所述远端界面（32）反射（8），

——在所述远端界面（32）反射后，部分在相反方向上穿过所述透明材料（35a），再次撞击所述近端界面（31）上并且穿过它，以便产生第二反射辐射（9）；

——收集（40）由所述第一反射辐射（6）和第二反射辐射（9）叠加的整个出射光辐射（15）；

——用光谱法分析（50）所述出射光辐射（15），以便根据在所述出射光辐射（15）中的所述第一反射光辐射（6）和第二反射光辐射（9）之间的干涉特性确定所述壁（35）的厚度，

其特征在于，

所述聚焦（10）的步骤通过具有两个主子午线平面（10a、10b）的非轴对称透镜装置（10、11、22、33）获得所述入射光辐射（5），使得所述入射光辐射（5）聚焦在第一主子午线平面（10a）中的第一虚焦点（F₁）上，以及聚焦在第二主子午线平面（10b）中的第二虚焦点（F₂）上。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述聚焦的步骤提供以下聚焦条件中的一个条件：

——所述第一虚焦点（F₁）/第二虚焦点（F₂）位于超出所述壁（35）的有限位置处，并且所述第二虚焦点（F₂）/第一虚焦点（F₁）基本位于所述壁（35）处；

——所述第一虚焦点（F₁）/第二虚焦点（F₂）基本位于无限远处，并且所述第二虚焦点（F₂）/第一虚焦点（F₁）基本位于所述壁（35）处；

——所述第一虚焦点（F₁）/第二虚焦点（F₂）基本位于所述无限远处，并且所述第二虚焦点（F₂）/第一虚焦点（F₁）位于超出所述壁（35）的有限位置处。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述收集的步骤提供聚焦所述整个出射光辐射（15）的步骤，使得所接收的出射光辐射（15）具有足够的能量来允许通过所述分析的步骤确定所述壁（35）的厚度，特别是，所述收集的步骤是受由所述出射光辐射（15）在与所述起始光辐射（2）相反的方向上撞击的所述非轴对称透镜装置（10、11、22、23）执行的；特别是，所述聚焦的步骤提供调整所述非轴对称透镜装置（10、11、22、23）的位置的步骤，用于调整所述第一虚焦点（F₁）和第二虚焦点（F₂）的位置，以获得预定的聚焦条件。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述厚度是通过所述物体的成形步骤确定，并且提供与所述分析的步骤相关联的所述透明物体（30）的成形步骤的控制步骤，使得根据所述厚度的检测值，所述生产控制步骤控制所述物体的成形参数，特别是所述物体是玻璃管，其中校正所述玻璃管的玻璃成形过程的步骤可以根据厚度偏移高于预定值而提供，或者在存在形状缺陷的情况下，特别是与所述分析的步骤相关联的所述透明物体（30）的所述生产控制步骤控制针对多个点所确定的厚度并且相互关联，所述多个点围绕所述管旋转地和/或纵向地隔开，并且在所述管的厚度错误或形状缺陷的存在下，相应地调整所述玻璃成形过程。