[发明专利]红外线反射基体无效

专利信息
申请号: 201280006708.7 申请日: 2012-01-30
公开(公告)号: CN103328591A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 宫西恭子;藤田贵史;细见哲也 申请(专利权)人: 长濑化成株式会社
主分类号: C09D201/02 分类号: C09D201/02;B32B27/00;C09D5/33;C09D7/12;C09D181/00
代理公司: 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 代理人: 曹芳玲
地址: 日本国大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 红外线 反射 基体
【权利要求书】:

1.一种红外线反射膜形成用的涂布剂,含有π共轭体系导电性聚合物。

2.一种红外线反射膜形成用的涂布剂,还包含粘合剂和/或抗氧化剂。

3.一种红外线反射膜,使用权利要求1或2所述的涂布剂所形成的红外线反射膜。

4.一种红外线反射基体,包含:

透明基体;和

对于所述透明基体涂布含有聚(3,4-二取代噻吩)和聚阴离子的复合体的涂布剂而形成的红外线反射层;

所述红外线反射基体全光纤透过率为60%以上。

5.根据权利要求4所述的红外线反射基体,其特征在于,所述聚阴离子为聚苯乙烯磺酸。

6.根据权利要求4或5所述的红外线反射基体,其特征在于,所述复合体的导电率为0.15(S/cm)以上。

7.根据权利要求4至6中任意一项所述的红外线反射基体,其特征在于,所述红外线反射层的膜厚为0.50μm以下。

8.根据权利要求4至7中任意一项所述的红外线反射基体,其特征在于,所述红外线反射基体的全光线透过率为70%以上。

9.根据权利要求4至8中任意一项所述的红外线反射基体,其特征在于,在5°正反射下、将铝沉积平面镜作为参考,对所述红外线反射基体测定的反射率的值在波长3000nm下为15%以上。

10.根据权利要求4至9中任意一项所述的红外线反射基体,其特征在于,所述涂布剂还包含粘合剂和/或抗氧化剂。

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