[实用新型]熔丝读出装置和系统

说明书

技术领域

概括地说，本实用新型涉及存储器元件，并且特别涉及一种一次性可编程(OTP)熔丝(fuse)读出。

背景技术

数字存储设备可以包括具有一次性可编程(OTP)存储器元件的存储设备。一种示例性的OTP存储器元件可以包括熔丝，熔丝可以是非易失性存储器元件，非易失性存储器元件可以通过使电流流过熔丝而被编程或者熔断。通常，熔丝单元两端的电压可以被读出，以便确定熔丝是否已经被编程。熔丝单元可以通过将熔丝单元电压与参考电压进行比较而读出。

对于具有多个OTP存储器元件的存储器设备，每个熔丝可以通过将每个熔丝两端的电压与参考电压进行比较而读出。但是，通常而言，必须使用电路来针对待测量的每个熔丝产生参考电压。因此，每个熔丝需要指定的电路来产生参考电压，这可以占据板上的大量空间。

此外，可以使用比较器和/或锁存器来读取OTP存储器元件，以确定每个OTP存储器元件的状态(例如，已编程的或未编程)。然而，与锁存器和熔丝单独的工作电压相比而言，比较器、锁存器和熔丝的组合通常在比较低的电压下工作。

实用新型内容

除了其他方面以外，本实用新型还讨论了连接到多个熔丝读出电路的参考电压发生器电路。该参考电压发生器电路可以被配置为对参考电流进行镜像，以产生参考电压和栅极偏置电压。多个熔丝读出电路中的每个熔丝读出电路可以连接到参考电压发生器电路上，并且还可以连接到多个熔丝中的一个熔丝上。多个熔丝读出电路中的每个熔丝读出电路可以被配置为使用栅极偏置电压来对参考电流进行镜像，以产生在连接到多个熔丝读出电路上的每个熔丝两端的熔丝读出电压。多个熔丝读出电路中的每个熔丝读出电路可以将每个熔丝的熔丝读出电压和参考电压进行比较，并且可以使用比较结果来指示连接到每个熔丝读出电路上的每个熔丝的状态。

本实用新型提供了一种熔丝读出装置，包括：参考电压发生器电路，其被配置为对参考电流进行镜像，以产生参考电压和栅极偏置电压；以及多个熔丝读出电路，每个熔丝读出电路连接到所述参考电压发生器电路上，并且每个熔丝读出电路还连接到多个熔丝中的一个熔丝上，其中，所述多个熔丝读出电路中的每个熔丝读出电路被配置为使用所述栅极偏置电压来对所述参考电流进行镜像，以产生连接到所述多个熔丝读出电路上的每个熔丝两端的熔丝读出电压，其中，所述多个熔丝读出电路中的每个熔丝读出电路被配置为对每个熔丝的所述熔丝读出电压和所述参考电压进行比较，并且使用比较结果来指示连接到每个熔丝读出电路上的每个熔丝的状态。

本实用新型进一步提供了一种熔丝读出系统，包括：处理器；以及参考电压发生器电路，其连接到所述处理器上，并且被配置为对参考电流进行镜像以产生参考电压和栅极偏置电压；以及多个熔丝读出电路，其连接到所述处理器上，所述多个熔丝读出电路中的每个熔丝读出电路连接到所述参考电压发生器电路上，并且每个熔丝读出电路还连接到多个熔丝中的一个熔丝上，其中，所述多个熔丝读出电路中的每个熔丝读出电路被配置为使用所述栅极偏置电压来对所述参考电流进行镜像，以产生连接到所述多个熔丝读出电路上的每个熔丝两端的熔丝读出电压，其中，所述多个熔丝读出电路中的每个熔丝读出电路被配置为对每个熔丝的所述熔丝读出电压和所述参考电压进行比较，并且使用比较结果来指示连接到每个熔丝读出电路上的每个熔丝的状态。

这部分旨在提供对本专利申请的主题的概述。这部分并非旨在提供本实用新型的排他性的或详尽的说明。本文包括了详细的描述，以提供关于本专利申请的进一步信息。

附图说明

在附图中(这些附图不一定是按照比例绘制的)，相同的数字能够描述不同视图中的类似部件。具有不同字母后缀的相同数字能够表示类似部件的不同示例。附图通过示例而非限制的方式概括地示例了本申请中讨论的各个实施例。

图1概括地示出了包括参考电压发生器电路和多个熔丝读出电路的系统的示例；

图2概括地示出了包括参考电压发生器电路和熔丝的熔丝读出电路的系统的示例；

图3(a)和图3(b)概括地示出了在熔丝读出期间信号的示例；以及

图4概括地示出了一种包括读出熔丝的方法。

具体实施方式

在一个示例中，系统可以包括具有一个或多个处理器的设备，这一个或多个处理器被配置为通信地(communicatively)连接到存储器设备。存储器设备可以是任何类型的存储器设备，包括只读存储器(例如，可编程只读存储器(PROM)、现场可编程只读存储器(FPROM)、一次性可编程(OTP)非易失性存储器，等等)。在一些示例中，存储器设备可以包括OTP熔丝，OTP熔丝可以通过使电流流过熔丝而被编程或者熔断。