[实用新型]光纤连接器插芯测试设备的插芯进料装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光纤连接器插芯测试设备，特别是涉及一种光纤连接器插芯测试设备的插芯进料装置。

背景技术

在光纤连接器插芯（简称插芯）的高精度测试设备中，插芯的洁净、无灰尘附着是保证测试精度准确性的关键因素。目前，在光纤连接器插针体全自动测试设备中，其光纤插芯进料装置通常采用螺旋式振动进料装置，如图1所示，该进料装置包括进料斗、衔铁、电磁铁线圈、支承弹簧以及底座，所示进料斗中设有斜料槽。该振动进料装置的原理为：进料斗振动，进而带动斜料槽振动，进而使斜料槽中的插芯依靠惯性力和摩擦力的综合作用沿斜料槽的斜坡向前、向上移动，进而进入测试设备中。具体讲，当进料斗在扭转和上下振动的过程中，进料斗内的插芯在离心力的作用下，插芯会向外贴着进料斗的内壁进入螺旋上升的斜料槽底部。如图2所示，斜料槽会左右振动，当其向左移动时还会向下移动，此时，插芯与斜料槽表面的摩擦力减小，插芯向下运动的惯性力克服其与斜料槽之间的摩擦力，进而使插芯相对斜料槽向前移动，即从位置1移动到位置2；当斜料槽向右移动时还会向上移动，此时，插芯与斜料槽表面的摩擦力增大，该摩擦力克服插芯向上运动的惯性力，进而使插芯相对斜料槽静止或略微向后移动，即从位置2移动到位置3。上述过程反复进行，最终使插芯在进料斗扭转和上下振动的过程中沿着斜料槽的斜坡一步步爬坡前进，即从位置1移动至位置9，再进入测试设备中。

在上述振动式的进料装置中，其内孔的清洁效果不是很理想，在进料斗的内孔和外表面上有杂质黏附，则在插芯进料过程中，这些杂质、黏附物会振落在进料斗中，进而对已清洁的插芯造成二次污染，从而影响测试数据的准确性。另外，插芯与斜料槽的表面相接触时会发生磨损现象，产生灰尘，进而对插芯产生污染。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型要解决的技术问题在于提供一种不会对进料斗内的插芯产生二次污染的光纤连接器插芯测试设备的插芯进料装置。

为实现上述目的，本实用新型提供一种光纤连接器插芯测试设备的插芯进料装置，包括一进料斗，所述进料斗上设有进料口和出料口，所述进料斗为圆筒形并固定在一底板上，所述进料斗的轴线与水平面成锐角，所述底板上垂直穿设一转轴，所述转轴的下端与一驱动机构相连接，转轴的上端固定连接一圆形转盘；所述转盘外缘与进料斗的内壁相适配；所述转盘外缘设有至少一个卡料槽，所述出料口设置在进料斗的顶部并向下延伸，且当转盘转动时，所述卡料槽正好经过出料口。

优选地，所述转盘的截面为一梯形。

进一步地，所述驱动机构包括一电机，所述电机输出端固定设有一小带轮，所述小带轮通过一同步带与一大带轮相连接，所述转轴固定在大带轮中；所述电机固定设在一固定板上，所述固定板与所述底板固定连接。

进一步地，还包括一支撑座，所述底板上固定连接一底盘，所述底盘上固定设有一安装轴，所述安装轴的两端穿设在一支架中，所述支架固定设置所述支撑座上，所述进料斗倾斜置于支撑座上。

优选地，所述支架上设有多个通孔，所述安装轴两端均设有一卡槽，所述卡槽与一通孔相连通、且一锁定螺丝依次穿设在该通孔、卡槽中。

进一步地，所述卡料槽的长度大于插芯长度、且小于插芯长度与插芯半径之和；卡料槽的宽度大于插芯直径、且小于插芯直径与插芯半径之和；卡料槽的高度大于插芯半径、且小于插芯直径。

优选地，所述转轴与底板之间还设有多个轴承。

进一步地，所述底板上还固定设有一向下倾斜的出料滑槽，所述出料滑槽上端与所述出料口连通、并沿进料斗内圆周在出料口处的切线方向延伸。

优选地，所述出料滑槽下端通过一转接头与一出料管相连接。

如上所述，本实用新型涉及的光纤连接器插芯测试设备的插芯进料装置，具有以下有益效果：

该插芯进料装置中，转轴带动转盘转动，进而使插芯在离心力的作用下进入转盘外缘的卡槽内、且随转盘一起转动，当卡料槽正好经过出料口时，该卡料槽内的插芯在重力的作用下落入出料口内，进而实现可控的单个插芯进料，且该插芯进料装置为非振动式进料，进而有效避免插芯与进料斗表面相互摩擦而造成的磨损，从而保证插芯的洁净度和插芯测试设备的测试精度。

附图说明

图1为现有技术中振动式光纤插芯进料装置的结构示意图。

图2为图1中振动送料的原理图。

图3为本实用新型的爆破图。

图4为图3的装配图。

图5为图4的剖面图。

图6为图4的C向视图。

图7为图6的俯视图。

图8为图5的B圈放大图。

图9为图5的A向视图（图9省略了进料斗）。