[实用新型]一种液晶显示模组的OTP烧录和上下限电压检测系统有效

专利信息
申请号: 201220733138.9 申请日: 2012-12-27
公开(公告)号: CN203084104U 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 邢树华;贝世鹏;梁博;时晋;张本震;吴迪 申请(专利权)人: 亚世光电股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/30
代理公司: 鞍山嘉讯科技专利事务所 21224 代理人: 张群
地址: 114031 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 液晶显示 模组 otp 下限 电压 检测 系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种液晶显示模组元件的检测试验系统。

背景技术

液晶显示模组元件与通常的电子元器件产品一样,都有一个可正常工作的电压供电范围,即标准工作电压及其上、下限工作电压。目前的生产企业在检测液晶显示模组元件时,只是用一路单一的标准电压加到被测元件上,来测试产品的各项参数是否合格。至于产品在规定的最低电压和最高电压下是否能够符合要求,只是靠检测人员的感觉,而没有一个检测系统来实际检验它。特别是很多液晶显示模组元件的驱动IC上还集成了OTP修正电压的烧录功能,这就要求产品检测试验系统还要为OTP电路提供一路工作电压。因此,迫切需要研发一种全功能的液晶显示模组元件的产品检测试验系统,以提高检测试验效率和测试参数的完整性。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种液晶显示模组的OTP烧录和上下限电压检测系统,该系统具有多路测试工作电压和一个主控测试系统,可以用来检测元件在最低工作电压、标准工作电压、最高工作电压下的各种性能参数,还可以用来进行OTP修正电压的检测及烧录。

为实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:

一种液晶显示模组的OTP烧录和上下限电压检测系统,其特征在于:该检测系统包括多路电源转换电路、MCU控制系统、由MCU控制系统控制的继电器切换电路以及待测液晶显示模组测试插槽,所述的多路电源转换电路提供背光电源、下限工作电压、正常工作电压、上限工作电压、OTP烧录电压、继电器工作电压;所述的MCU控制系统其内部的I/O口一部分控制继电器切换电路,另一部分用来与待测液晶显示模组测试插槽中的被测液晶显示模组元件进行通讯。

与现有技术相比,本实用新型的优点是:

由于该检测试验系统不但具有标准的模组工作电压、背光电压和参数测试系统,还增设了模组下限工作电压、上限工作电压、OTP检测烧录电压、继电器工作电压等多种工作电压;并且将原来的参数测试系统也扩展成了整个检测试验台的主控系统。该检测试验系统不但可以检测液晶显示模组在标准工作电压下的性能参数,而且可以检测液晶显示模组在下限工作电压和上限工作电压下的性能参数,扩大了参数的检测范围,进一步地提高了产品的检验质量;同时,该检测试验系统还设置了OTP烧录电压检测功能,可以同时进行液晶显示模组的OTP修正电压的检测与烧录。

附图说明

图1是液晶显示模组元件的检测试验系统的结构示意图。

具体实施方式

本实用新型的具体结构是这样的:如图1所示,一种液晶显示模组的OTP烧录和上下限电压检测系统,该检测系统包括多路电源转换电路、MCU控制系统、由MCU控制系统控制的继电器切换电路以及待测液晶显示模组测试插槽,所述的多路电源转换电路提供背光电源、下限工作电压、正常工作电压、上限工作电压、OTP烧录电压、继电器工作电压;所述的MCU控制系统其内部的I/O口一部分控制继电器切换电路,另一部分用来与待测液晶显示模组测试插槽中的被测液晶显示模组元件进行通讯。所述的模组下限工作电压、上限工作电压、OTP检测烧录电压、继电器工作电压等都是由稳压电源提供的稳定直流工作电压经多路电源转换电路转换后得到。

检测试验系统的工作过程是这样的:系统开始加电时,系统中的多个稳压电路开始工作,并产生系统所需的各种电压。在MCU控制系统的程序控制下,通过继电器切换电路先为待测液晶显示模组元件加上正常的标准工作电压,并按检测流程对液晶显示模组元件进行检测,以查看被测产品是否符合要求。若产品符合要求,则测试过程往下进行;若产品不符合要求,且被测元件的驱动IC有OTP修正功能,则可对被测元件进行OTP校正,使其符合要求,同时进行OTP电压烧录。若经过OTP电压校正后符合要求,则测试过程往下进行;若仍不符合要求,则此产品就是不合格品了,且测试过程也可以结束。

测试的下一步是把被测元件的正常工作电压断开,且为产品加上下限工作电压,同时检查被测元件是否符合要求。若不符合要求,则此产品也是不合格品,测试过程也可结束。

测试的最后一步是把下限工作电压断开,且为产品加上上限工作电压进行检测,同时检查被测元件是否符合要求。若符合要求,则测试过程结束;若不符合要求,则此产品也是不合格品,测试过程也可结束。

测试过程结束后,主控系统将断开所有电源。断电后,才可将被测元件取下,根据是否符合要求,归入不同类别里。然后再放上另一组元件,开始下一次检测。

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