[实用新型]一种对IC卡进行自动热插拔的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及IC卡自动热插拔的测试方法及IC卡自动热插拔装置的实现方法。 

背景技术

IC卡在生产测试、使用过程中经常会遇到带电插拔的情况，在带电插拔的过程中，由于带电接触、静电累积放电等因素影响，会产生各种异常波形，当IC卡芯片的上电复位电路POR、静电保护电路等保护电路的设计不够合理时，IC卡芯片会出现数据丢失的软失效或者电路损伤的硬失效。所以，一般IC卡芯片在测试验证阶段，需要进行带电插拔实验，以此来验证IC卡芯片的保护电路是否满足设计要求，避免IC卡在生产测试、使用过程中出现带电插拔失效的情况。这种带电插拔实验通常称为热插拔测试。 

现有的热插拔测试一般采用人工的带电插拔模式，即让读卡器处于带电状态，直接将IC卡芯片的触点或管脚不断插拔读卡器的IC卡插座或IC座，当插拔的次数满足规定次数要求后，检测IC卡芯片的功能和性能，当IC卡芯片的功能没有被破坏，性能也没有变化，即认为通过了热插拔测试。人工带电插拔产生的波形比较随机，这种热插拔测试结果其实也是随机的。为了减少测试结果的随机性，通常必须增加测试样本，增加的测试样本越多，其测试花费的时间就越长。因而，这种人工带电插拔的热插拔模式，其测试效率是比较低的。 

实用新型内容

本实用新型提出了一种IC卡自动热插拔测试装置，相对人工热插拔测试模式，可以大大提高热插拔测试效率，同时减轻人工热插拔测试人员的体力负担。 

本实用新型提出的IC卡自动热插拔测试装置，由离心振动装置、IC卡插座、IC座、测试针和延长底板组成。将IC卡插入IC卡插座，将延长底板上的延长端插入读卡器，将测试针插入IC座，启动离心振动装置，产生上下反复振动，带动测试针反复插拔IC座，实现自动带电插拔。离心振动装置通过转轴座固定在延长底板上，通过转轴可相对延长底板进行转动。IC卡插座固定在延长底板下面，IC座固定在延长底板上面，IC卡插座的信号接口与IC座的信号接口相连。8根测试针安装在离心振动装置的离心块的下方，测试针与延长底板上的延长端的8个金属触点连接。将延长底板上的延长端插入读卡器的插座，将测试卡插入IC卡插座，将测试针插入IC座时，测试卡上的金属触点就与读卡器连接上了，此时，测试卡可与读卡器进行通讯。 

自动热插拔测试装置的IC座，其金属插口呈V字形，当测试针插入IC座时，测试针的插入位置不在V字型金属插口的中心位置，而是偏向V字形金属插口的一边。 

离心振动装置由离心转动电机、离心块、振动杠、转轴座、调整螺栓、振动弹簧组成。离心振动装置的离心转动电机带动离心块转动时，带动整个振动杠绕转轴座振动，同时带动测试针反复插拔IC座。调整螺栓安装在振动杠上，振动弹簧与调整螺栓连接，振动弹簧用来加剧振动幅度。调整螺栓用来调节测试针与IC座的接触时间长短，进而影响接触时产生的单个脉冲波形宽度。微调调整螺栓可改变振动杠与延长底板的相对角度，通过微调振动杠与延长底板的相对角度，可微调测试针与IC座的接触时间长短，从而改变热插拔产生的脉冲波形宽度。如图6的调整螺栓高度时波形变化图所示，当调高螺栓高度时，单个脉冲波形宽度变窄，当调低螺栓高度时，单个脉冲波形宽度变宽。 

本实用新型提出的IC卡自动热插拔测试方法为：IC卡的8个IC管脚通过插 座与IC座连接，8根测试针与读卡器的信号接口连接，控制读卡器的输出信号与IC卡上电后应该得到的输入信号相同。离心振动装置在上下反复振动的同时，带动测试针反复插拔IC座，从而实现自动带电插拔。调整螺栓的高度，可调节测试针与IC座的接触时间长短，从而改变热插拔产生的脉冲波形宽度。调节电机的转速，可改变热插拔的频率。 

附图说明

图1为自动插拔装置俯视示意图 

图2为自动插拔装置侧面示意图 

图3为IC测试卡 

图4为IC座接口示意图 

图5为延长底板上延长端的金属触点接口示意图 

图6为调整螺栓高度时波形变化图 

图7为调测试卡插入位置示意图 

具体实施方式

如图1所示的自动插拔装置俯视示意图和图2所示的自动插拔装置侧面示意图所示，IC卡自动热插拔测试装置由离心振动装置1、IC卡插座2、IC座3、测试针4、延长底板5组成。IC座3上有8个插口，接口定义如图4所示，其一般实际使用的接口为VCC、RST、CLK、GND、I/O。延长底板5上的延长端有8个金属触点，其接口定义如图5所示，其一般实际使用的接口为VCC、RST、CLK、6ND、I/O。测试卡6上有8个金属触点，测试卡6的金属触点如图3所示。