[实用新型]一种三维位姿探测装置有效
| 申请号： | 201220707944.9 | 申请日： | 2012-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN203024778U | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 张力平;孙安;刘克;薛培培 | 申请（专利权）人： | 长安大学;江苏德佐电子科技有限公司;江苏安德信超导加速器科技有限公司;南京大学 |
| 主分类号： | G01C11/00 | 分类号： | G01C11/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 710064 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 三维 探测 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种三维位姿探测装置，其特征在于：包括二维位置敏感探测器（1）、凸透镜（2）、发射板（3），所述发射板（3）上的点光源（4）发出光线通过所述凸透镜（2）在所述二维位置敏感探测器（1）的光敏面（5）上成像为清晰点，所述发射板（3）在中心和四角共设置五个所述点光源（4），且相邻两个角落的所述点光源（4）的距离为20mm。
2.根据权利要求1所述的一种三维位姿探测装置，其特征在于：所述点光源（4）采用发光二极管。
3.根据权利要求1所述的一种三维位姿探测装置，其特征在于：所述光敏面（5）为正方形。
4.根据权利要求1所述的一种三维位姿探测装置，其特征在于：所述二维位置敏感探测器（1）的视角为30°。
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