[实用新型]一种基于RFID的转速测量装置有效
申请号: | 201220707246.9 | 申请日: | 2012-12-19 |
公开(公告)号: | CN202994818U | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 赖晓铮;谢泽明;刘云梁 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01P3/481 | 分类号: | G01P3/481 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 蔡茂略 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 rfid 转速 测量 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及射频识别技术领域,特别涉及一种基于RFID的转速测量装置。
背景技术
近年来,物联网技术发展迅速,“智慧地球”构建了未来智能化世界的蓝图,射频识别技术(RFID)是物联网中最关键的技术之一。与传统的条形码相比,具有防水、防磁、耐高温、读取距离大、数据加密、存储数据容量更大、存储信息更改简单等特点。由于射频识别技术的这些独特的优势,利用RFID技术来实现物体各类信息的识别将是未来的趋势,目前主要应用有图书管理、物流管理、门禁系统、追踪定位、温度测量等。利用RFID技术来测量物体转速是一项新的应用,扩展了RFID技术的应用范围,对物联网的普及有积极的作用。
转速测量是许多工程实践中需要应用到的技术,例如发动机转速监控、车轮转速检测。传统的物体转速测量技术有光电编码器、红外式传感器、霍尔传感器、磁阻式传感器、电容传感器等。光电编码器和红外式传感器要求被测物体相对传感器是可见的;霍尔传感器、磁阻式传感器和电容传感器可实现封闭式测量,但要求被测物体离传感器距离较近。以上测量方法,在被测物体要求在密闭空间且测量器必须离被测物体较远时,实现起来有较大的困难。
实用新型内容
本实用新型为了克服现有技术存在的缺点与不足,提供一种基于RFID的转速测量装置,具有无接触密闭环境测量和远距离测量两大特点。
本实用新型所采用的技术方案:
一种基于RFID的转速测量装置,包括RFID读写器、线极化标签、读写器天线,所述读写器天线的主波束方向与被测物体的转动面垂直,所述线极化标签固定在被测物体上,且与被测物体同步转动。
所述线极化标签为无源线极化标签,其天线的极化方向与被测物体的转动面平行。
所述读写器天线为圆极化天线,所述读写器天线与线极化标签的距离与RFID读写器的发射功率成正比,所述RFID读写器的发射功率越大,距离越大。
所述读写器天线与线极化标签的距离为0-20cm。
所述测量方法,包括如下步骤:
S1 RFID读写器向线极化标签发送信号;
S2 RFID读写器接收到线极化标签返回信号,依次经过IQ解调滤波、隔离直流分量后得到I或Q路信号的瞬时值,进一步得到标签返回信号的交流幅度IA0或QA0;
S3以I路信号说明,每间隔T时间重复N次S2和S3,得到I路信号的交流幅度变化数据IAn={IA0,IA1....IAN},所述N为I路交流幅度变化数据的长度,T为采样周期,所述T远远小于物体的转动周期,且在时间T内,物体的转动可忽略;T越小测量的精度和速度越高,根据具体情况确定,所述N取值越大测量越精确但测量所需时间也越长;
S4将I路信号的交流幅度变化数据进行傅里叶变换,得到I路信号的交流幅度变化主频率f;
S5通过交流幅度变化主频率,计算得到被测物体的转速。
所述S5计算得到被测物体的转速,具体为:将交流幅度变化主频率f代入R=f/4,得到被测物体的转速。
所述S2进一步得到标签返回信号的交流幅度IA0或QA0,具体方法为:以I路信号说明,截取标签返回信号的一段数据,所述一段数据中至少包含8个低电平和8个高电平,取直流信号的参考电平为Vref,在截取的标签返回信号中采集大于Vref的8个峰值,计算得到最大平均值Vmax;在截取的标签返回信号中,采集小于Vref的8个谷值,计算得到最小平均值Vmin,则IA0=Vmax-Vmin。
将所得被测物体的转动速度,发送到计算机或其他显示单元进行下一步应用。
本实用新型的有益效果:
1、测速方法基于射频信号反向散射原理,实现无接触式测量,而且当被测物体要求在密闭环境不可见时,仍然可实现速度测量;
2、反射信号强度的与发射功率有关,只要提高发射功率,即可增加测量距离,实现远距离的速度测量;
3、标签反射的信号是经过固定码率调制的波形,其幅度受外界干扰较小,与红外以及光电测速相比,抗噪性能较好;
4、对RFID协议无需特殊的改动,在原有协议基础上即可实现测速功能,应用方便。
附图说明
图1为一种基于RFID的转速测量装置结构图。
具体实施方式
下面将结合附图对实用新型作进一步的详细说明。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220707246.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。