[实用新型]一种OLED显示屏电光性能测试装置

说明书

技术领域

本实用新型属于电子技术领域，涉及一种对OLED显示屏进行光电性能测试的装置。

背景技术

有机电致发光二极管（Organic Light-Emitting Diode，简称OLED）是一种新型平板显示器件。相比于传统的CRT、LCD，OLED具有低功耗、高亮度、主动发光、响应速度快、无视角问题及柔性化显示等优势，具有广阔的应用前景，被认为是最有可能替代液晶显示（LED）的器件。

OLED显示屏制作完成后，需要对OLED显示屏进行光电性能检测。通过测试OLED器件的电流-电压特性、发光亮度-电压特性、温度-电流特性、发光效率-电压特性、色坐标以及电致发光光谱等，来判断器件发光性能和电学性能的好坏。目前较为普遍的是采用直流电压表、电流表来测定OLED显示屏的电流、电压特性；利用微弱光光度计测定OLED显示屏的发光亮度，利用温度采集仪测量OLED显示屏的温度。然后将测试数据输入到计算机进行后续分析处理，获得样品的电光性能。这种测量方法，电压、电流、亮度、温度等物理量无法实现同时测量，且误差大、效率低；数据采集量及采集密度也大大受到限制，无法准确地反映样品的性能。日本的OTSUKA公司虽然研制出基于上述方法的大型OLED光电特性一体化检测设备，但是这种大型的OLED检测设备、结构复杂、制作成本高、容易损坏，且操作过于复杂。在科研生产中，有时只是需要确定显示屏的好坏，并不需要检测出详细的电光特性，使用大型检测设备成本太高，因此就需要一个简单、实用、方便、价钱便宜的OLED电光性能测试机，以对OLED显示屏的好坏作出直观迅速的判断。

发明内容

为了克服市面上的OLED电光性能测试装置结构复杂、制作成本高、容易损坏、且使用不方便的缺点，本实用新型提供一种OLED显示屏电光性能测试机，该OLED显示屏电光性能测试机基于ARM7控制芯片，可以快速检测出OLED显示屏的好坏，具有单色显示、灰度条显示和全彩显示的测试功能。

本实用新型的技术方案是：

一种OLED显示屏电光性能测试装置，如图1至4所示，包括一个木质黑盒1、主电路板、控制板6、OLED显示屏接口板5和测试夹具；所述木质黑盒1的盒面开有两个长方形窗口7和8；所述OLED显示屏接口板5安装于第一长方形窗口7处，并采用DIP40插针与主板电路的DIP40插槽连接；所述主板电路由电源电路、RAM7系LPC2138芯片及外围电路、复位电路、JTAG下载电路以及接口电路组成，并固定安装于木质黑盒1内部；所述控制板6安装于第二长方形窗口8处，控制板6上具有一个三档开关和电源指示灯，控制板6采用6针插脚和跳线与主电路板连接。

所述OLED显示屏测试夹具包括一个压杆3，所述压杆3的一端采用固定座2固定于木质黑盒的盒面，且压杆3能够围绕固定端翻转；测试时，将待测OLED显示屏置于木质黑盒1的盒面上，并使待测OLED显示屏上的集成电路与OLED显示屏接口板5相接触；压上压杆3，压杆3与待测OLED显示屏的接触面具有连接泡沫刷9，以保证待测OLED显示屏上的集成电路与OLED显示屏接口板5形成良好的电接触；压上压杆3后，压杆3的另一端通过固定于木质黑盒1盒面的卡扣予以固定。

所述控制板6的不同档位控制待测OLED显示屏显示单色、灰度条、全彩图片，对待测OLED显示屏进行快速直观的检测。

所述电源电路由LM1117、MC7805和LM317三个稳压模块组成，实现市电输入到12V和3.3V的直流输出。其中3.3V和12V给SSD1355模组供，3.3V给LPC2138供电。

所述复位电路采用较为简单的组容复位电路，以MAX706为核心，实现上电复位和手动复位。

所述RAM7系LPC2138芯片及外围电路采用外部11.0592MHZ晶振；LPC2138的P0.2、P0.3、P0.11和P0.14I/O口为开漏输出，在用作I2C总线以及其他功能时，需要加1～10K的上拉电阻；LPC2138芯片的P0.15、P0.17、P0.18和P0.20口外接控制板6，作为显示档位的控制信号。

所述JTAG下载电路采用ARM公司提出的标准20脚JTAG仿真调试接口。

所述接口电路选用8080并行时序接口。其中BS0＝0，BS1＝1，BS2＝1，VCC外接，故GDR，RESE，FB，Vbref悬空。选用内部提供时钟，故CL悬空。RD#，WR#，CS#，DC#，RES#为8080并行时序接口，接LPC2138的P2口，D15~D0接LPC2138的P0口。