[实用新型]用于光谱设备的光束精确校准辅助装置

说明书

技术领域

本专利涉及一种光学仪器校准辅助装置，特别是反射式光谱设备检测前的光强校准。

背景技术

目前，各类光谱设备成为各类光学性能检测重要手段之一，这些检测设备包含傅里叶变换光谱仪、椭偏仪等。它们都是由光源、分光设备、探测器等几个部分构成。反射式光谱设备基本原理如图1所示，光束经过光源和分束器之后，与被检测样品作用之后进入到探测器中。检测前后光强变化为数据检测的依据。

图1中光路2的检测器响应与光束覆盖图示由图2给出。通常情况下，入射光束光斑形状不可能与探测器光阑完全重合，此外样品的大小和厚度均会对入射光束光斑与探测器光阑重合度造成影响，因此需要在每次使用前进行准直，尽量保证检测器响应相应最大化。各类检测器响应与光束覆盖探测器探头面积有关，光束覆盖检测器上面积越大，则检测器所响应的光强越大，测试准确度越高。而现今某些光谱设备日益趋向集成化、小型化，导致光源与检测器之间有效距离（图1中光路2）过短，人眼和手动校准操作时产生的准确度下降。

发明内容

本专利为了解决上述技术上的不足，提供了一种用于提高光谱检测设备光束校准准确度辅助装置。用于保证各种光路情况下，不改变入射光束的传播方向，仅仅改变光束传播的光程。

本专利的技术解决方案如下：

光谱检测设备精密校准辅助装置，包含第一高度调整机构，第二高度调整机构和第一水平调整机构，第二水平调整机构，一个位于水平调整机构上的反射镜支撑装置。特点在于其构成是：

所述的第一高度调整机构和第二高度调整机构平行放置，作为整个光学装置的支撑装置。第一水平调整机构、第二水平调整机构采用螺母安装在第一高度调整机构和第二高度调整机构左右两侧。第一水平调整机构、第二水平调整机构在高度调整机构上下可调，用于适应不同光路高度位置。

在所述第一水平调整机构，第二水平调整机构上平行放置反射镜支撑装置，作为整个反射镜组的支撑。反射镜支撑装置采用螺母安装在第一水平调整机构、第二水平调整机构上，并且可沿水平调整架一维前后滑动，用于适应不同光路的水平位置。

在所述光学装置反射镜支撑装置上依次放置第一反射镜，第二反射镜，第一反射镜转动机构，第二反射镜转动机构。第一反射镜转动机构、第二反射镜转动机构分别固定于光学装置反射镜支撑装置靠近第一高度调整机构端面左右两侧。第一反射镜、第二反射镜分别安装在第一反射镜转动机构，第二反射镜转动机构上，并可以在0到360度之间随着反射镜转动机构改变角度。

在所述第一反射镜、第二反射镜之间固定放置光程调节滑轨，第三反射镜。光程调节滑轨位于第一反射镜和第二反射镜正中间位置，并与第一水平调整机构、第二水平调整机构平行。第三反射镜镜面垂直于光程调节滑轨放置，并可沿光程调节滑轨一维前后滑动。

所述第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜组成V形折叠光路，用于保证出射光束与入射光束的传播方向一致，且光束传播的光程可调。

利用上述的光谱设备光路精确校准辅助装置对光谱设备校准，包括下列步骤：

①调整光学装置高度位置：调整所述的第一水平调整机构、第二水平调整机构在第一高度调整机构和第二高度调整机构上的高度，保证入射光束和第一反射镜的中心位置高度一致。

②调整光学装置水平位置：调整所述光学装置反射镜支撑装置在第一水平调整机构、第二水平调整机构上的水平位置，保证入射光束和第一反射镜的水平中心位置一致。

③通过调整第三反射镜在光程调节滑轨上的位置，获得所需的光程。

④通过转动所述第一反射镜角度调整机构，保证入射光束正对第一反射镜正中心位置，同时确保在第一反射镜上的反射光线正对第三反射镜正中心位置。转动第二反射镜角度调整机构，确保在第二反射镜上的出射光线与入射光束方向一致。

本专利的技术效果：

本专利提出了一种解决现有光谱设备光程过短，导致光束在和探测器准直的过程调准过程准确度低的问题。假设在设备所能达到最理想状态下，现有光束光斑与探测器探头重合度存在0.1mm的偏差，而某些光谱设备的样品位置到探测器探头之间为15-20cm距离，经过计算，在手动调整端可容忍偏离将会是在0.2mm。如果采用本专利的装置校准，调整第三反射镜在光程调节滑轨上的位置，使得样品位置到探测器探头之间光程距离为100cm，在手动调整端可容忍偏离将会放大到1mm。

附图说明

图1是反射式光谱检测设备基本原理图。

图2是检测器响应与光束覆盖示意图。

图3是反射式光谱检测设备光束校准装置本专利实施例1的结构示意图。