[实用新型]PLC中的SD卡检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及自动控制领域，特别是一种可编程逻辑控制器中的SD卡检测电路。 

背景技术

SD卡（Secure Digital Memory Card，安全数码存储卡）是一种基于半导体快闪记忆器的新一代记忆设备，超小型的存储卡产品Micro SD卡也开始被广泛使用于各种便携式装置上。在工业领域中，很多型号的可编程逻辑控制器（PLC）也可以使用标准SD卡或Micro SD卡作为数据存储设备，在本实用新型中统称为“SD卡”。 

一般情况下，SD卡的插入侦测是通过PLC中的卡槽机械结构来实现的。在SD卡插入之前机械侦测脚会被上拉，当SD插入时会使该侦测脚和接地的外壳相连，这时侦测脚上的电平发生从高到低的变化，从而实现侦测功能。但是，因为电磁干扰或者其它特殊原因，有可能出现卡槽外壳不能接地或机械侦测脚不能使用的情况，这时机械机构的侦测脚就失去了作用，SD卡的侦测就会出现问题。 

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的是提出一种PLC中的SD卡检测电路，使得即使在机械结构侦测脚失去作用的时候仍能够准确检测SD卡的插入，从而提高SD卡检测的稳定性。 

根据本实用新型的一个方面，提供一种PLC中的SD卡检测电路，所述检测电路包括一反相器电路和一下拉电阻器，所述反相器电路一端与MCU的中断输入端口连接，另一端与PLC中一电接触点连接，所述下拉电阻器一端与该电接触点连接，另一端接地， 

其中，该电接触点在SD卡插入PLC时与SD卡的DATA3管脚电接触。 

优选地，所述下拉电阻器的阻值大于SD卡内部上拉电阻阻值的4倍。 

优选地，当SD卡内部上拉电阻阻值为50kΩ时，所述下拉电阻器的阻值是220kΩ。 

优选地，所述SD卡包括标准SD卡和Micro SD卡。 

从上述方案中可以看出，由于本实用新型的SD卡检测电路通过MCU的中断检测来 实现SD卡插入的检测，使得即使在机械结构侦测脚失去作用的时候仍能够准确地检测SD卡的插入，从而提高了SD卡检测的稳定性。 

附图说明

下面将通过参照附图详细描述本实用新型的优选实施例，使本领域的普通技术人员更清楚本实用新型的上述及其它特征和优点，附图中： 

图1是本实用新型具体实施方式中SD卡插入PLC前SD卡检测电路的电路示意图； 

图2是本实用新型具体实施方式中SD卡插入PLC后SD卡检测电路的电路示意图。 

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，以下举实施例对本实用新型进一步详细说明。 

图1是本实用新型具体实施方式中SD卡插入PLC前SD卡检测电路的电路示意图。其中，P3V3代表PLC的3.3V供电电源，V_I/O点代表MCU的电源接口，电阻3为MCU中连接在该电源接口与中断输入端口B之间的内部上拉电阻。 

如图1所示，在一个具体实施方式中，本实用新型的SD卡检测电路包括反相器电路1和下拉电阻器2。其中，反相器电路1的一端与MCU的中断输入端口B连接，另一端与PLC中的电接触点A连接，该下拉电阻器2的一端与该电接触点A连接，另一端接地。即，如图1所示的SD卡插入前的状态下，该反相器电路1和该下拉电阻器2在MCU的中断输入端口B与地之间串联连接，该反相器电路1和该下拉电阻器2之间存在电接触点A。其中，该电接触点A在SD卡插入PLC之后会与该SD卡的DATA3管脚发生电接触。 

如图1所示，在SD卡插入PLC之前，由于反相器电路1的阻值通常远大于该下拉电阻器2，因此电接触点A为下拉后的低电平，经过反相器电路1之后的MCU中断输入端口B点则为高电平（逻辑1）。 

图2是本实用新型具体实施方式中SD卡插入PLC后SD卡检测电路的电路示意图。如图2所示，此时SD卡的DATA3管脚与电接触点A发生电接触。电阻4是SD卡内部的上拉电阻，其在SD卡插入PLC之后等效连接在3.3V供电电源与DATA3管脚（电接触点A）之间。 

本实用新型中SD卡检测电路中的下拉电阻器2的阻值明显大于SD卡内部的该上拉电阻4，例如大于该上拉电阻4阻值的4倍。在一个具体实施方式中，该上拉电阻4阻值为50kΩ，而下拉电阻器2的阻值为220kΩ。如图2所示，在SD卡插入PLC之后，由于该上拉电阻4和阻值明显大于该上拉电阻4的下拉电阻器2串联在供电电源与地之间，因此电接触点A为上拉后的高电平，经过反相器电路1之后的MCU中断输入端口B点则为低电平（逻辑0）。