[实用新型]一种LED性能测试箱

说明书

技术领域

本实用新型涉及LED测试领域，具体涉及一种LED性能测试箱。

背景技术

目前通行的LED可靠性试验方法是：在同型号、同批次的LED产品中，抽取一定数量的样品进行试验，在试验前以及试验过程中测量其性能参数，根据相应的寿命算法推算出该型号、该批次的LED寿命。由于LED的理论寿命长达数万小时，因此需要采用加强应力的强化试验方法来加速整个试验过程。

为了提高效率及优化试验结果，通行做法是同时对多个LED样品进行可靠性试验。现有LED可靠性试验系统中通常采样一个托盘，在该托盘上固定多个LED样品，再将整个托盘放置在强化试验箱内，在试验过程中当需要测量LED样品的性能参数时，就将托盘上的LED样品依次拆下，逐个放置于积分球内进行测量，测量完毕后再将LED样品重新安装到托盘上，放回强化试验箱内继续后续试验。其存在的问题是：

1、在整个试验过程中，需要反复安装、拆卸LED样品，增加了大量的人力和时间成本；

2、并且在安装、拆卸过程中存在造成试验样品性能改变的不稳定因素而影响最终测试结果。

实用新型内容

为了解决现有技术问题，本实用新型提供了一种结构简单并且性能可靠的LED测试箱。

一种LED性能测试箱，包括箱体和取光装置，还包括第一电机、第二电机、转轴、光纤和连接件，所述箱体上设有通孔，所述转轴和光纤穿过所述通孔，所述取光装置设置在所述箱体内部，设置在所述箱体外部的所述第一电机驱动所述转轴转动，所述连接件固定在所述转轴处于所述箱体内的一端，所述第二电机固定在所述连接件上，所述第二电机驱动所述取光装置靠近或远离所述转轴，所述光纤的第一端与所述取光装置连接、且第二端在所述箱体外。

在更优的方案中，所述转轴具有轴向的转轴通孔，所述光纤穿过所述转轴通孔。

在更优的方案中，所述通孔处设有隔离箱体内与箱体外的密封件。

在更优的方案中，还包括用于反馈所述第一电机转动角度的第一旋转编码器和用于控制所述第一电机旋转的第一控制器，所述第一旋转编码器的输出信号端与所述第一控制器电连接。

在更优的方案中，还包括用于反馈所述第二电机转动角度的第二旋转编码器和用于控制所述第二电机旋转的第二控制器，所述第二旋转编码器的输出信号端与所述第二控制器电连接。

在更优的方案中，还包括测光仪，所述光纤的第二端与所述测光仪连接。

在更优的方案中，还包括LED固定盘，所述LED固定盘具有至少两个分布有LED固定位的同心圆周，所述圆周的圆心在所述转轴所处的直线上，以使所述取光装置转动时对准各个LED固定位上的LED。

在更优的方案中，所述取光装置可以靠近或远离所述LED固定盘。

本实用新型的有益效果是：采用较少的取光装置即可以对多个LED样品的光进行采集，使得整个LED性能测试箱的结构较为简单，同时，当需要更换LED固定位之间的间隔不同的LED固定盘时，只需要调整取光装置运动而对准相应的LED样品，而不需要其他过多的操作，因而操作较为简单，对多种LED固定盘适用性好，电机通过转轴及连接件驱动取光装置旋转的情况下，还可以提高整个LED性能测试箱的密封性能；同时可以对多个LED样品性能参数分时在线检测，检测过程中无需反复安装、拆卸LED试验样品，并且不中断施加于LED试验样品的全部应力条件，从而避免因反复安装、拆卸LED试验样品以及应力条件发生改变而引入的测试误差。

附图说明

图1是本实用新型一种实施例的LED性能测试箱的局部剖视示意图；

图2是图1的局部放大图；

图3是图1的LED固定盘的立体示意图。

具体实施方式

以下将结合附图，对本实用新型的具体实施例作进一步说明。

如图1和2所示，一种实施例的LED性能测试箱，包括箱体1、第一电机11、第二电机3、取光装置13、转轴16、连接件17和光纤14，箱体1上设有连通箱体外和箱体的内腔19的通孔12，转轴16和光纤14穿过通孔12，取光装置13和第二电机3设置在箱体1的内腔19，第一电机11设置在箱体1的外部，第一电机11驱动转轴16转动，伸入内腔19内的转轴16的一端与连接件17固定，从而第一电机11可以驱动连接件17作圆周运动，第二电机3固定在连接件17上，第二电机3驱动取光装置13靠近或远离转轴16，光纤14的第一端与取光装置13连接，第二端在箱体1的外部，与测光仪15连接。