[实用新型]光模块端口测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及通信领域，具体而言，涉及一种光模块端口测试装置。

背景技术

随着经济的发展和社会的需求的增长，人们对于对通讯速度也提出了越来越高的要求。目前，在高速通信网络设备（例如：40G或100G的路由器和交换机）的通讯性能测试中，需要使用大量的CFP光模块和光纤，搭建这样的测试环境较为复杂，如果测试环境出现问题想进行定位也比较困难。而且CFP光模块本身成本很高，如果在高低温环境中长时间运行，很容易影响光模块的寿命，因此，给产品的生产测试提出了巨大的难题。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种光模块端口测试装置，以至少解决现有技术中对光模块的端口进行测试的成本较高，测试效率较低的技术问题。

根据本实用新型的一个方面，提供了一种光模块端口测试装置，包括：壳体，和封装在上述壳体中的时钟数据恢复模块CDR和/或控制芯片，其中，上述CDR，用于将接收到的高速信号环回至发送上述高速信号的待测设备；上述控制芯片，用于获取各个控制管脚接收到的低速信号并对获取到的上述低速信号进行存储，上述控制芯片还提供待测设备获取上述低速信号的接口。

优选地，上述CDR与上述控制芯片相连，用于在检测到上述高速信号的能量低于预定能量阈值时向上述控制芯片发送报警信号；上述光模块端口测试装置还包括：报警显示装置，与上述控制芯片相连，用于在上述控制芯片接收到上述报警信号后显示上述报警信号。

优选地，上述报警显示装置包括发声器和/或LED指示灯。

优选地，上述CDR包括：允许4路10G信号同时通过的第一CDR和允许6路10G信号同时通过的第二CDR。

优选地，上述控制芯片上设置有第一使能管脚和第二使能管脚，其中，上述第一使能管脚，与上述第一CDR相连，用于对上述第一CDR的开启状态进行控制；上述第二使能管脚，与上述第二CDR相连，用于对上述第二CDR的开启状态进行控制。

优选地，上述装置还包括：光模块连接器，上述光模块端口测试装置通过上述光模块连接器与上述待测设备的光模块端口相连。

优选地，上述光模块连接器的连接端口是长短针方式的端口。

优选地，上述装置还包括：EEPROM，与上述控制芯片相连，用于记录上述光模块连接器的插拔次数。

优选地，上述装置还包括：复位芯片，与上述控制芯片相连，用于确定上述光模块端口测试装置的插拔次数并将上述插拔次数上传至上述EEPROM。

优选地，上述控制芯片包括：FPGA芯片和/或单片机。

在本实用新型中，提供了一种光模块端口测试装置，在该测试装置中有CDR和/或控制芯片，通过CDR便可以完成对待测装置端口的高速信号测试，通过控制芯片可以完成对待测试装置端口的低速信号测试，可以按照实际需要进行选择，在装置中不用设置光电路。通过上述方式解决了现有技术中对光模块的端口进行测试的成本较高，测试效率较低的技术问题，达到了减少测试成本和提高测试效率的技术效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本申请的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1是根据本实用新型实施例的光模块端口测试装置的一种优选结构示意图；

图2是根据本实用新型实施例的测试装置的一种优选系统框图；

图3是根据本实用新型实施例的测试装置进行测试的一种优选流程图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本实用新型实施例提供了一种优选的光模块端口测试装置，如图1所示，包括：壳体102，和封装在该壳体中的时钟数据恢复模块（Clock Data Recovery，简称为CDR）104和/或控制芯片106。下面对这几个结构进行具体描述。

1）CDR，用于将接收到的高速信号环回至发送高速信号的待测设备；即，CDR从RX接收到高速信号，直接再将接收到的高速信号通过TX传输回去，这样发送该高速信号的路由器或者交换机就可以将环回的高速信号和自身发送的高速信号进行比较，从而确定其上的高速信号是否正常，从而完成对CFP端口的测试。