[实用新型]一种界面测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及工业仪表测量领域，尤其涉及一种界面测量装置。

背景技术

目前，在液位测量方法中主要有差压法、超声波法、雷达法、导波雷达等几种方法，但是对于界面测量（二种介质）及液面上有泡沫或其它杂质的情况下，测量就变为极难，且测不准确，甚至测量不了。

发明内容

为克服现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种界面测量装置，精确测量该介质液位，测量有泡沫的液位。

为实现上述目的，本实用新型通过以下技术方案实现：

一种界面测量装置，包括膜片、导波杆，膜片与导波杆滑动连接；所述的膜片密度比下面的被测介质密度小，比上面的被测介质密度大。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

结构简单，精确测量界面液位，特别是可以测量有泡沫的液位。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图中：1-导波雷达  2-膜片  3-导波杆。

具体实施方式

下面结合说明书附图对本实用新型进行详细地描述，但是应该指出本实用新型的实施不限于以下的实施方式。

见图1，一种界面测量装置，包括膜片2、导波杆3，膜片2与导波杆3滑动连接；所述的膜片2密度比下面的被测介质密度小，比上面的被测介质密度大。

实施例：

首先，测量待测界面的二种液体密度；然后，制作膜片2，采用密度小于下面液体密度、大于上面液体密度的材料，制作一外径80-110mm，内径大于导波雷达导波杆直径，厚度2~3mm的膜片2；

使用时，将膜片2穿在雷达导波杆3上，可在导波杆3上自由滑动，同时在导波杆3最下端设置限位装置，使膜片2滑动时不能脱离导波杆3；将界面测量装置插入装载被测介质的容器中，膜片2浮在上下二种介质的分界面上，调整雷达反射波，使之在膜片2上产生反射，即可得到界面液位。

利用此种方法还可精确测量泡沫下面的液位；如果想同时测量二种介质的高度，就调整导波雷达在最上表面和界面的二个反射波，即可同时测量界面及最上面液面高度了。

本实用新型结构简单，能精确测量界面液位，特别是可以测量有泡沫的液位。