[实用新型]一种偏光显微镜装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及偏光显微镜变温测试技术领域，特别是连续变温条件下，可使厘米尺度样品原位旋转观测的偏光显微镜装置。

背景技术

偏光显微是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜，被广泛地应用在矿物、化学、材料等领域，在生物学和植物学也有应用。在连续变温条件下进行微观结构偏光显微观察，可以为结构相变研究提供重要的直接实验证据，对于研究材料的微观结构与性能之间的影响关系具有重要的理论价值和实验指导意义。但是，具有连续变温功能的偏光显微镜结构复杂，且受正交偏光条件下连续变温部件体积和结构限制，一般只能对较小的毫米尺度样品进行观察，制样难度很高，且不易获得理想的观察区域，观测过程中无法实现样品的原位旋转。

发明内容

为了克服上述现有技术的缺陷，本实用新型的目的在于提供一种偏光显微镜装置，在连续变温条件下，可使厘米尺度样品原位旋转观测，实现了厘米尺度样品、连续变温（-190～600℃）、高倍偏光(×1000)、原位旋转、大范围直接观察及高质量图像采集(1200万像素)。

为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种偏光显微镜装置，包括显微镜底座18及与其相配置的偏光显微镜系统，显微镜底座18上设置有竖直的调节支架17，调节支架17上设置有X/Y平移台12，ω旋转平台11设置于X/Y平移台12之上，变温平台10设置于ω旋转平台11之上，变温平台10自带有一个X’/Y’平移台。

上述的一种偏光显微镜装置，还包括一个单反数码相机1，单反数码相机1通过可调节镜筒2固定于偏光显微镜系统的目镜座4之上，单反数码相机1为只有机身不包括镜头的市售产品，单反数码相机1信号输出通过数据传输线16与计算机19相连。

本实用新型具有如下技术优点：

1．在偏光显微镜中引入商用单反数码相机1与可调节镜筒2，低成本解决了在弱光条件下易出现噪点和边界模糊的问题，并获得高质量数码影像。

2．变温平台10内的X’/Y’平移台、ω旋转平台11和X/Y平移台12可实现被观测样品9在X/Y、ω、X’/Y’5个自由度的移动，使光路预调节与变温过程中样品观测区域的调节可独立完成。

3．变温测试中样品观测区域可进行较大范围调节，且可在观测区域内任意位置进行原位旋转调节。有效地降低了观察样品加工、观测区域调整的技术难度。

本实用新型实现了厘米尺度样品、连续变温(-190～600℃)、高倍偏光(×1000)、原位旋转、大范围直接观察及高质量图像采集(1200万像素)。该装置由偏光显微镜系统、超长工作距离物镜、图像采集装置、样品承载系统、变温平台组成。本实用新型扩大了偏光显微镜应用范围。

附图说明

图1为本实用新型所述装置的结构示意图。

图2为适用本实用新型观测PLZST弛豫反铁电单晶中畴结构随温度变化的结果。

具体实施方式

下面通过附图和具体实施方式对本实用新型做进一步说明。

参照附图，一种偏光显微镜装置，该装置由图像采集系统、偏光显微镜系统、超长工作距离物镜8、样品承载系统组成；

图像采集系统包括单反数码相机1，单反数码相机1通过可调节镜筒2固定于偏光显微镜系统中的目镜座4之上，单反数码相机1为只有机身不包括镜头的市售产品，其成像焦距是通过调节可调节镜筒2的长度来实现，单反数码相机1信号输出通过数据传输线16与计算机19相连；

偏光显微镜系统为现有技术，由目镜3、目镜座4、检偏镜5、显微镜镜筒6、物镜转换器7、起偏镜13、反光镜14、光源15、可调节支架17和显微镜底座18组成，显微镜底座18设置起偏镜13、反光镜14及光源15，显微镜底座18上设置有竖直的调节支架17，调节支架17上设置有显微镜镜筒6，显微镜镜筒6上设置有检偏镜5、显微镜镜筒6顶部设置目镜座4，目镜座4上设置有目镜3，显微镜镜筒6的底部安装物镜转换器7、安装物镜转换器7底部安装超长工作距离物镜8，

样品承载系统设置在显微镜底座18上竖直安装的调节支架17上，样品承载系统包括X/Y平移台12、ω旋转平台11设置于X/Y平移台12之上，变温平台10设置于ω旋转平台11之上，被观测样品置于变温平台10内X’/Y’平移台之上，被观测样品置于变温平台10内X’/Y’平移台之上，被观测样品具有X/Y、X’/Y’、ω这5个自由度可调节。