[实用新型]一种检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示部件检测设备，特别是指一种用于显示基板的检测装置。

背景技术

如图1所示，为现有技术中检测设备的结构示意图；该检测设备包括：玻璃基台11，设置于所述玻璃基台11底部的反射板12，以及设备于所述玻璃基台11中可升降的Pin（支撑杆）13，所述Pin 13的头部为普通PVC材料制作；

玻璃基台11上方设有显示基板，如彩膜基板（CF）21，Pin支撑所述彩膜基板21，光照设备22照射的光线通过彩膜基板21以及玻璃基台11底部的反射板12进行反射，通过观察设备（如显微镜）23进行观察检测；

由于Pin 13的头部为普通PVC材料制作且为黑色没有反光的效果，在有Pin支撑的区域，检测到的画面是全黑的，无法进行彩膜基板21缺陷的观察和修补，会导致许多缺陷的漏修，很可能导致缺陷至下一个工序无法修补而暂时中断，造成液晶面板的制程的中断，从而导致面板良率的下降。

如以32英寸的面板为例分析暗态的面积：每台检测设备有36个Pin，每个Pin头部的表面积约为：π×122=425.39mm²，每个液晶面板面积：402.8×708.4=285343.52mm²；平均每个液晶面板上有两个Pin支撑，所以Pin支撑的面积即暗状态的面积占总面板面积的百分比为：452.39*2/285343.52=0.32%；如上所述，有0.32%部分面板区域是暗态无法进行检测。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种检测装置，可以解决检测设备在支撑Pin位置无法进行透射观察显示基板缺陷的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型的实施例提供一种检测装置，用于显示基板的检测，包括：基台；设置于所述基台内的可升降的支撑结构；所述支撑结构的支撑所述显示基板的部位的表面为反光的表面。

其中，所述支撑结构包括：支撑体，以及与所述支撑体连接的支撑帽；所述支撑帽的上表面为反光的表面。

其中，所述支撑帽的表面涂覆有反光材料。

其中，所述支撑帽由反光材料制作。

其中，所述反光材料包括：全反射率大于一预定反射率的反光材料。

其中，所述反光材料包括：微发泡MCPET材料。

其中，所述基台包括：玻璃基台以及设置于所述玻璃基台底面的反射板；或者

所述基台的底面是反射型的底面。

其中，上述检测装置还包括：设置于所述基台上方，用于发出光线的光照设备。

其中，所述光线的波长在400~700nm之间。

其中，上述检测装置还包括：设置于所述基台上方，用于接收所述基台反射的反射光线的观察设备。

本实用新型的上述技术方案的有益效果如下：

上述方案中，通过支撑结构（如支撑杆Pin）的反光设计，可以在进行透射观察时，使支撑结构产生漫反射，可以把从倾斜的光照设备打出来的光透过基台后进行全反射，再由观察设备（如显微镜）接收，从而达到对支撑结构处的显示基板也能准确地进行缺陷检测的目的。

附图说明

图1为现有技术的检测设备的正视图；

图2为本实用新型的检测装置的正视图；

图3为图2中所示的检测装置的支撑结构的结构示意图；

图4为图2所示的检测装置的支撑结构采用的反射材料的微发泡材料MCPET的漫反射效果示意图。

［主要元件符号说明］

10：基台

11：玻璃基台

12：反射板

13：支撑结构

21：彩膜基板

22：光照设备

23：观察设备

31：微细气泡

32：镜面反射光

33：漫反射光

具体实施方式

为使本实用新型要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。

如图2所示，本实用新型的实施例提供一种检测装置，用于显示基板（如彩膜基板）的检测，包括基台10；其中，所述基台10可以包括玻璃基台11以及设置于所述玻璃基台11底部的反射板12，或者所述基台10的底面是反射型的底面；所述检测装置还包括：设置于所述基台10内的可升降的支撑结构13（如支撑杆Pin）；所述支撑结构13的支撑所述显示基板（如彩膜基板21）的部位的表面为反光的表面。