[实用新型]一种用于VXI总线数字测试系统的故障诊断模块

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种故障诊断模块，尤其涉及一种用于VXI总线数字测试系统的故障诊断模块，属于集成电路测试技术领域。

背景技术

VXI总线（VXI bus）是VME bus Extensions for Instrumentation的缩写。它是继IEEE488总线之后，为适应测量仪器从分立的台式和机架式结构发展为更紧凑的模块式结构的需要，而推出的一种新的总线标准。

VXI总线系统是一种计算机控制的功能系统，一般由主机箱、若干器件、资源管理器和主控制器组成。组成VXI总线系统的基本逻辑单元称为“器件”。一般来说，一个器件占据一块VXI模块，也允许在一块模块上实现多个器件或者一个器件占据多块模块。当若干个用于集成电路测试的VXI模块基于VXI总线进行搭建时，就组成了VXI总线数字测试系统。这些VXI模块一般包括PMU（精密测量单元）模块、通道模块、电源模块、图形模块等。

在集成电路的复杂制造工序中，不可避免会引入一些缺陷，造成集成电路产品出现故障。为了减少缺陷集成电路的产生，在生产测试过程中进行故障诊断就成为必要的环节。在集成电路生产测试过程中，对测试时间非常敏感。一旦发现故障，必须快速定位故障点并加以排除，在尽量短的时间内恢复生产。另一方面，对于集成电路生产测试来说，测试设备、连接线、探针、针卡都可能是故障产生点，如何快速诊断出此类故障点也是个问题。面对这样的技术问题，开发一套用于集成电路测试系统快速诊断的故障诊断模块就显得很有必要了。

在专利号为ZL200510026242.9的中国发明专利中，公开一种集成电路片上系统中故障的测试系统和方法。它包含有为完善集成电路片上系统可测试性而增加的电路和基于此电路运行的测试寻访机制，其电路由串行测试总线、并行测试总线、IP核边缘封装单元链路、时钟控制单元与IP核选择译码单元组成；其测试寻访机制由IP核独立测试寻访机制和IP核核间连线故障的测试寻访机制组成。该发明适用于与IP核核间连线故障的测试。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种用于VXI总线数字测试系统的故障诊断模块。该模块可以在集成电路生产测试过程中实现快速故障诊断。

为实现上述的目的，本实用新型采用下述的技术方案：

一种用于VXI总线数字测试系统的故障诊断模块，其特征在于：

所述故障诊断模块包括主控制器、配置存储器、多个诊断模块、继电器和探卡接口；其中，

所述主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接所述配置存储器、多个诊断模块和探卡接口；

所述配置存储器用于存储故障诊断的配置程序；所述探卡接口连接所述继电器。

其中较优地，所述故障诊断模块中还包括JTAG接口，所述JTAG接口连接所述主控制器。

其中较优地，所述主控制器由微控制器和复杂可编程逻辑器件组成，所述微控制器用于控制配置存储器和集成电路测试仪资源，所述复杂可编程逻辑器件用于提供所述继电器的继电器控制位。

其中较优地，所述配置存储器为E²PROM或者FLASH。

其中较优地，所述诊断模块包括但不限于测试仪故障诊断模块、GPIB通信诊断模块、通路连接性诊断模块、通路漏电流诊断模块和供电电压诊断模块中的一个或数个。

本实用新型所提供的故障诊断模块可以与各种VXI总线数字测试系统相互配合，自动完成集成电路生产测试过程中的故障诊断工作，故障定位快速准确，操作简单方便。

附图说明

图1是本实用新型所提供的故障诊断模块的整体结构示意图；

图2是本故障诊断模块中，主控制器的原理示意图；

图3是本故障诊断模块中，CPLD的配置示意图；

图4是本故障诊断模块中，探卡接口的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。