[实用新型]超低漏电探针卡有效
| 申请号: | 201220536104.0 | 申请日: | 2012-10-18 |
| 公开(公告)号: | CN203164230U | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
| 发明(设计)人: | 张雷;李杰 | 申请(专利权)人: | 上海依然半导体测试有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067 |
| 代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 胡美强 |
| 地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 漏电 探针 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种探针卡,特别是涉及一种超低漏电探针卡。
背景技术
漏电值是探针卡诸多性能参数中的重要参数之一。漏电值的控制,在设计和制造探针卡过程中,通过选用不同材料、调整制作工艺得以实现。普通探针卡的漏电值一般在10-9安培(纳安级),低漏电探针卡的漏电值要求在10-12安培(皮安级),超低漏电探针卡的漏电值则控制在10-15安培(法安级)。探针卡的漏电特性主要反映在以下方面:一、在低漏电卡的制作过程中容易产生针和针之间的漏电。二、在低漏电卡的制作过程中容易产生针和铝环之间的漏电。三、在低漏电卡的制作过程中容易产生针和环氧之间的漏电。四、在低漏电卡的制作过程中容易产生针和PCB之间的漏电。
现有探针卡的缺点如下:做好的探针卡漏电值一般在20PA/10V,不能满足更低要求低漏电卡制作的要求。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种超低漏电探针卡,其提高漏电参数稳定性,满足更低要求低漏电卡制作的要求。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:一种超低漏电探针卡,其特征在于,其包括印刷电路板、陶瓷环、同轴针、绝缘管、同轴管、同轴线、信号测试端,陶瓷环固定在印刷电路板的下端,同轴针与绝缘管的一端固定,绝缘管的另一端与同轴管的一端固定,同轴管穿过陶瓷环上,同轴针通过同轴线与信号测试端连接。
本实用新型的积极进步效果在于:本实用新型的漏电值控制在1PA/10V以内,提高漏电参数稳定性,保证各节点的漏电值降到最低,满足更低要求低漏电卡制作的要求。
附图说明
图1为本实用新型超低漏电探针卡的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图给出本实用新型较佳实施例,以详细说明本实用新型的技术方案。
如图1所示,本实用新型超低漏电探针卡包括印刷电路板(PCB)1、陶瓷环2、同轴针3、绝缘管4、同轴管5、同轴线6、信号测试端7,陶瓷环2固定在印刷电路板1的下端,同轴针3与绝缘管4的一端固定,绝缘管4的另一端与同轴管5的一端固定,同轴管5穿过陶瓷环2上,同轴针3通过同轴线6与信号测试端7连接。
本实用新型的漏电值控制在1PA/10V以内,提高漏电参数稳定性,保证各节点的漏电值降到最低,满足更低要求低漏电卡制作的要求。
上述实施例不作为对本实用新型的限定,凡在本实用新型的范围内所作的任何修改、等同替换、改进等,均属于本实用新型的保护范围。
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