[实用新型]光检测及放大电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及电路，尤其涉及一种应用于光功率信号采集系统的光检测放大电路。

背景技术

光缆的损耗包含静态损耗和动态损耗。光缆在静止状态时通过光时域反射仪测量得到静态损耗。光缆的动态损耗则是指光缆在高速放线过程中产生的动态附加损耗。测量速度低的光时域反射仪不能适应光缆放线使光损耗快速、大范围的变化、故不能测量其动态损耗。因此，需一套动态范围宽、实时性好的光功率信号采集系统来采集、观测放线过程中光纤内光功率信号的大小和变化，获得放线过程中光缆动态损耗的大小。

发明内容

本实用新型的目的就是提供一种光检测放大电路。

本实用新型提供的技术方案是：

    光检测及放大电路，包括PIN光探测器，还包括低频跨阻抗前置电路，所述低频跨阻抗前置电路包括运算放大器A0、电阻R1、电容C1及电阻R2，运算放大器A0的输出端串接有电阻R2，电阻R1并接在运算放大器A0的两端，电容C1并联在电阻R1两端，PIN光探测器的一端连接运算放大器A0的负极输入端，运算放大器A0的正极输入端接地。

优选的，所述PIN光探测器的另一端也连接有一个低频跨阻抗前置电路，所述低频跨阻抗前置电路包括运算放大器A1、电阻R4、电容C4及电阻R6，运算放大器A1的输出端串接有电阻R6，电阻R4并接在运算放大器A1的两端，电容C4并联在电阻R4两端，运算放大器A0的负极输入端连接PIN光探测器，运算放大器A1的正极输入端接地。

优选的，PIN光探测器的两端并联有二极管D1，二极管D2反相并联在二极管D1两端。

优选的，所述运算放大器A0的输出端与运算放大器A1的输出端之间跨接有电阻R7，电容C7并联在电阻R7两端，电容C8和电容C9串联之后并联在电容C7两端，电容C8和电容C9公共端接地。

本实用新型 PIN光检测器两端分别接运放A0 A1的负输入端，两个反接的限压二极管D1和二极管D2充当PIN光检测器的保护电路，防止PIN光检测器反向击穿。反馈电阻R1和电阻R2与带宽限制电容C1、电容C4分别构成两个一级RC低通滤波电路，跨接电阻R7和C7、C8、C9构成第二个二级RC低通滤波电路，最终得到所需低频信号。PIN光检测器的两输入端接运算放大器A0和运算放大器A1的“—”输入端，运算放大器A0和运算放大器A1对PIN光检测器的两个引脚的检测电流分别进行负反馈放大，得到差分输出信号。

本实用新型电路结构对称，适合于高灵敏度的光接收机前端电路；它有效的减少了光检测及放大电路的共模噪声，提高了光功率信号采集系统输入光功率信号的灵敏度，扩大了系统光功率信号动态检测范围。

附图说明

图1是本实用新型电路结构示意图。

具体实施方式

如图1所示为光检测及放大电路结构图，包括PIN光探测器，PIN光探测器的两端并联有二极管D1，二极管D2反相并联在二极管D1两端。PIN光探测器的两端分别连接两个低频跨阻抗前置电路。

15V电源分别给运算放大器A0和运算放大器A1供电。所述一个低频跨阻抗前置电路包括运算放大器A0、电阻R1、电容C1及电阻R2，运算放大器A0的输出端串接有电阻R2，电阻R1并接在运算放大器A0的两端，电容C1并联在电阻R1两端，PIN光探测器的一端连接运算放大器A0的负极输入端，运算放大器A0的正极输入端接地。

所述PIN光探测器的另一端连接的低频跨阻抗前置电路包括运算放大器A1、电阻R4、电容C4及电阻R6，运算放大器A1的输出端串接有电阻R6，电阻R4并接在运算放大器A1的两端，电容C4并联在电阻R4两端，运算放大器A0的负极输入端连接PIN光探测器，运算放大器A1的正极输入端接地。

所述运算放大器A0的输出端与运算放大器A1的输出端之间跨接有电阻R7，电容C7并联在电阻R7两端，电容C8和电容C9串联之后并联在电容C7两端，电容C8和电容C9公共端接地。