[实用新型]RFID大板测试仪有效
| 申请号： | 201220514902.3 | 申请日： | 2012-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN202837441U | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 兰荣 | 申请（专利权）人： | 兰荣 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 443208*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | rfid 测试仪 | ||
【权利要求书】：
1.RFID大板测试仪，包括主体和设置于主体的测试台，在该主体内设有控制器，该控制器分别与呈矩阵分布的且设于测试台的RFID芯片检测探头电连接，用于显示RFID大板RFID芯片状态的指示灯分别与控制器和RFID芯片检测探头电连接，该指示灯的数量与RFID芯片检测探头相当，其特征在于：
还包括与控制器连接且同时输入位置信号时自动启动对RFID大板进行检测的至少两个位置检测探头。
2.根据权利要求1所述的RFID大板测试仪，其特征在于：
所述指示灯为彩色指示灯。
3.根据权利要求1或2所述的RFID大板测试仪，其特征在于：
所述RFID大板测试仪包括还包括存储不同RFID芯片厂商的RFID芯片特征信息的存储器。
4.根据权利要求3所述的RFID大板测试仪，其特征在于：
所述测试台上设有至少两个限位块。
5.根据权利要求4所述的RFID大板测试仪，其特征在于：
所述限位块呈L形。
6.根据权利要求5所述的RFID大板测试仪，其特征在于：
所述RFID大板测试仪呈L型，其中矩阵分布的RFID芯片检测探头设置在L的平水方向，指示灯分布于竖直方向
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