[实用新型]一种悬式绝缘子坯件或瓷件顶厚测量装置有效
| 申请号: | 201220502559.0 | 申请日: | 2012-09-27 |
| 公开(公告)号: | CN202853536U | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
| 发明(设计)人: | 苏飞;邓小玲;薛征峰 | 申请(专利权)人: | 重庆鸽牌电瓷有限公司 |
| 主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 401220 重庆市*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 绝缘子 瓷件顶厚 测量 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于电瓷领域,具体涉及一种悬式绝缘子坯件或瓷件顶厚测量装置。
背景技术
在绝缘子行业,为了保证悬式绝缘子的机械强度和结构高度,减少其分散性,在悬式绝缘子的生产过程中需要对悬式绝缘子坯件或瓷件头部尺寸进行严格控制,由于头部的顶部厚度是关系到悬式绝缘子机械强度和结构高度的重要参数,所以必须按批次进行测量检验。目前,对悬式绝缘子坯件或瓷件的头部尺寸测量时,需要破坏坯件和瓷件,这样只能对批量生产的绝缘子进行抽查,对整批产品的质量监测不是全面的,监测不彻底。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种快速方便,且不破坏悬式绝缘子坯件或瓷件的悬式绝缘子坯件或瓷件顶部厚度测量。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供一种悬式绝缘子坯件或瓷件顶厚测量装置,包括工作台、固定在工作台上的立柱、连接在立柱上的定位圈和连接在定位圈上的深度游标卡尺。
在工作台上安装立柱,游标尺由固定在立柱上的定位圈固定在工作台之上,先将深度游标卡尺的标尺下滑测量定位圈到工作台面的高度数据,然后将标尺上提,把悬式绝缘子坯件或瓷件倒放在工作台上,将标尺对准坯件和瓷件孔,下滑标尺,测量另一高度数据(差高),将高度数据减后差高就是坯件或瓷件顶部厚度。本实用新型通过深度游标卡尺的利用快速方便的测量出绝缘子坯件或瓷件的顶部厚度,且不破坏悬式绝缘子坯件或瓷件。
作为本实用新型技术方案的进一步限定,所述定位圈固定连接在立柱上,定位圈固定在立柱上,只需测量一次定位圈到工作台面的高度数据,之后只需对定位圈到每个绝缘子坯件或瓷件顶部的高度数据(差高)就可以,避免了重复测量定位圈到工作台面的高度数据,节省了工序,也节约了时间和人力。
作为本实用新型技术方案的进一步限定,所述定位圈活动连接在立柱上,当我们对不同规格的绝缘子坯件或瓷件进行顶部厚度测量时,可以根据不同尺寸的绝缘子进行测量,使得本实用新型的适用范围扩大。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明:
图1是本实用新型实施例的结构示意图。
具体实施方式
实施例一:如图1所示,本实用新型提供一种悬式绝缘子坯件或瓷件顶厚测量装置,包括工作台5、固定在工作台5上的立柱1、连接在立柱1上的定位圈2和连接在定位圈2上的深度游标卡尺3。
在工作台5上安装立柱1,深度游标卡尺3由固定在立柱1上的定位圈2固定在工作台5之上,先将深度游标卡尺3的标尺下滑测量定位圈到工作台面的高度数据,然后将标尺上提,把悬式绝缘子坯件或瓷件4倒放在工作台5上,将标尺对准坯件或瓷件孔,下滑标尺,测量另一高度数据(差高),将高度数据减后差高就是坯件或瓷件顶部厚度。本实用新型通过深度游标卡尺3的利用快速方便的测量出绝缘子坯件或瓷件4的顶部厚度,且不破坏悬式绝缘子坯件或瓷件4。
实施例二:如图1所示,本实用新型提供一种悬式绝缘子坯件或瓷件顶厚测量装置,包括工作台5、固定在工作台5上的立柱1、连接在立柱1上的定位圈2和连接在定位圈2上的深度游标卡尺3,所述定位圈2固定连接在立柱1上,定位圈2固定在立柱1上,只需测量一次定位圈2到工作台面的高度数据,之后只需对定位圈2到每个绝缘子坯件或瓷件4顶部的高度数据(差高)就可以,避免了重复测量定位圈2到工作台面的高度数据,节省了工序,也节约了时间和人力。
实施例三:如图1所示,本实用新型提供一种悬式绝缘子坯件或瓷件顶厚测量装置,包括工作台5、固定在工作台5上的立柱1、连接在立柱1上的定位圈2和连接在定位圈2上的深度游标卡尺3,所述定位圈2活动连接在立柱1上,当我们对不同规格的绝缘子坯件或瓷件4进行顶部厚度测量时,可以根据不同尺寸的绝缘子进行测量,使得本实用新型的适用范围扩大。
以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出对于本领域的技术人员来说,在不脱离本实用新型结构的前提下,还可以作出若干变形和改进,这些都不会影响本实用新型实施的效果和专利的实用性。
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