[实用新型]导波雷达物位计

权利要求书

1.一种用于确定包含在容器中的产品的填充水平的导波雷达物位计，其特征在于，所述导波雷达物位计包括： 

收发器，所述收发器用于发送电磁发送信号以及接收在所述产品的表面处反射的电磁回波信号； 

探测器，所述探测器连接到所述收发器，并且被配置成延伸到所述容器中并朝着所述表面引导所述发送信号以及朝着所述收发器引导所述回波信号；以及 

密封布置，所述密封布置包括： 

-中空壳体， 

-导体，所述导体在所述壳体内部延伸，以用于在所述收发器与所述探测器之间传输电磁信号， 

-电介质套管，所述电介质套管被布置在所述壳体内部并围绕所述导体， 

-至少一个间隙，所述至少一个间隙形成在所述电介质套管与相邻的导电表面之间，所述间隙具有面向所述容器的敞开端，从而允许容器气氛进入并凝结在所述间隙中，以及 

-导电涂层，所述导电涂层设置在所述电介质套管的面向所述间隙的表面上，并且与所述相邻的导电表面电接触，以使得在所述物位计的操作频率下所述导电涂层与所述相邻的导电表面之间的阻抗充分低，以降低存在于所述间隙中的任何介质的影响。 

2.根据权利要求1所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述导电涂层与所述相邻的导电表面电流接触，以确保将所述间隙的两侧保持在相等的电势。 

3.根据权利要求1所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述至少一个间隙包括形成在所述套管与所述导体之间的第一间隙，并且，所述导电涂层包括设置在所述套管的内表面上的第一导电表面涂层。 

4.根据权利要求1所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述至少一个间隙包括形成在所述套管与所述壳体之间的第二间隙，并且，所述导电涂层包括设置在所述套管的外表面上的第二导电表面涂层。 

5.根据权利要求3所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述电介质套管将所述导体悬挂在所述壳体中。 

6.根据权利要求4所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述电介质套管将所述导体悬挂在所述壳体中。 

7.根据权利要求5所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述导体包括抵靠所述电介质套管的支撑表面的、径向延伸的带状物，以使得所述电介质套管悬挂所述导体。 

8.根据权利要求7所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述第一导电表面涂层的一部分延伸到所述支撑表面上。 

9.根据权利要求8所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述导波雷达物位计还包括导电材料的第一接触构件，所述第一接触构件被布置在所述第一导电表面涂层的在所述支撑表面上的所述部分与所述径向延伸的带状物之间。 

10.根据权利要求6所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述壳体具有向内突出部，并且，所述电介质套管具有抵靠所述突出部的悬挂表面，以使得所述壳体悬挂所述电介质套管。 

11.根据权利要求10所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述电介质套管具有半径减小的终止部，所述终止部延伸超过所述悬挂表面，并且，所述第二导电表面涂层的一部分设置在所述悬挂表面上。 

12.根据权利要求11所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述终止部延伸超过所述突出部一段距离。 

13.根据权利要求11所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述导波雷达物位计还包括导电材料的第二接触构件，所述第二接触构件被布置在所述向内突出部与所述第二导电表面涂层的在所述悬挂表面上的所述部分之间。 

14.根据权利要求1所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述导电涂层为沉积在所述套管上的金属合金。 

15.根据权利要求1所述的导波雷达物位计，其特征在于，所述电介质套管由陶瓷材料和塑料材料中的一种材料制成。