[实用新型]一种真空两段式测试结构有效
| 申请号： | 201220486443.2 | 申请日： | 2012-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN202794252U | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 张艳 | 申请（专利权）人： | 张艳 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 真空 段式 测试 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种真空两段式测试结构，其特征在于，其包括上针板、下针板、电磁铁、上模挂钩、下模钩座、长针、短针、驱动板，上针板、下针板分别位于一个印制电路板的上下两侧，长针的长度大于短针的长度，电磁铁位于一个下针板的一端，上模挂钩与下模钩座连接，下模钩座与电磁铁电连接，长针、短针位于印制电路板的下方且与下针板垂直，上模挂钩、上针板都固定在驱动板的下方。
2.如权利要求1所述的真空两段式测试结构，其特征在于，所述印制电路板由一个上载板和一个下载板夹住，上载板位于上针板的下方。
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